[发明专利]用于含石墨干酪根地层的饱和度评价的方法

权利要求书

1.一种用于评价含石墨干酪根地层的饱和度的方法，所述方法包括：

(a)获得含石墨干酪根地层的电导率值和介电常数值；

(b)提供将所述电导率和所述介电常数与所述地层的含水孔隙度和所述地层中石墨干酪根颗粒的有效纵横比相关联的有效介质模型；

(c)将(a)中获得的所述电导率值和所述介电常数值输入到(b)中提供的所述有效介质模型中；以及

(d)处理所述有效介质模型以计算所述地层的所述含水孔隙度。

2.根据权利要求1所述的方法，其中(d)还包括处理所述有效介质模型以计算所述地层的所述含水孔隙度和所述地层中所述石墨干酪根颗粒的所述有效纵横比。

3.根据权利要求1所述的方法，其中(a)还包括：

(a1)对所述地层进行电磁测量；以及

(a2)处理电磁测量结果以计算所述电导率值和所述介电常数值。

4.根据权利要求1所述的方法，其中(a)还包括：

(a1)将具有发射器和接收器的电磁测量仪器部署在穿透所述地层的地下井筒中；

(a2)使所述发射器将电磁能量发射到所述地层中；

(a3)使所述接收器接收所述发射的电磁能量；以及

(a4)处理所述接收的电磁能量以计算所述电导率值和所述介电常数值。

5.根据权利要求1所述的方法，其还包括：

(e)评价(d)中计算出的所述含水孔隙度，以估计所述地层的烃产率。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述有效介质模型还将所述地层的所述电导率和所述介电常数与所述地层的所述含水孔隙度、所述地层中所述石墨干酪根颗粒的体积分数以及所述石墨干酪根颗粒的第一极化系数和第二极化系数相关联。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述第一极化系数和第二极化系数与至少所述石墨干酪根颗粒的复介电常数、地层水的复介电常数和所述石墨干酪根颗粒的纵横比参数有关，所述第一极化系数针对平行于所述石墨干酪根颗粒的对称轴而施加的电场，并且所述第二极化系数针对垂直于所述石墨干酪根颗粒的对称轴而施加的电场。

8.根据权利要求1所述的方法，其中(c)还包括将所述地层中的所述石墨干酪根颗粒的体积分数输入到(b)中提供的所述有效介质模型中。

9.根据权利要求1所述的方法，其中(c)还包括：

(c1)将核测井仪器部署在穿透所述地层的地下井筒中；

(c2)使所述核测井仪器进行核测井测量；

(c3)处理核测井测量结果以估计所述地层中石墨干酪根颗粒的体积分数；以及

(c4)将所述地层中所述石墨干酪根颗粒的所述体积分数输入到(b)中提供的所述有效介质模型中。

10.根据权利要求1所述的方法，其中(c)还包括将所述地层的温度和压力输入到所述有效介质模型中。

11.根据权利要求1所述的方法，其中(c)还包括将以下项输入到所述有效介质模型中：(i)所述石墨干酪根颗粒的粒度的对数正态分布的均值和方差；(ii)无石墨干酪根背景的水相曲折度指数；以及(iii)地层水盐度。

12.根据权利要求1所述的方法，其中(c)还包括：

将所述地层的测量温度、所述地层的测量压力和地层水的盐度输入到水/盐水介电模型中；

处理所述水/盐水介电模型以计算所述地层水的复介电常数，所述复介电常数包括所述地层水的介电常数和电导率；以及

将所述计算出的所述地层水的介电常数和电导率输入到所述有效介质模型中。