[发明专利]光学装置的晶圆级制造在审
申请号: | 202080074592.5 | 申请日: | 2020-11-05 |
公开(公告)号: | CN114616655A | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
发明(设计)人: | 桑德普·拉兹丹;维普尔库马尔·K·帕特尔;马克·A·韦伯斯特;马修·J·特拉弗索 | 申请(专利权)人: | 思科技术公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L23/48;H01L23/488;H01L21/768;H01L21/78;G02B6/12;G02B6/122;G02B6/13;G02B6/30;G02B6/42;G02B6/43 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 杨佳婧 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 装置 晶圆级 制造 | ||
本文描述的各方面包括一种方法,该方法包括:将光子晶圆与电子晶圆进行接合以形成晶圆组件;去除晶圆组件的衬底以暴露光子晶圆或电子晶圆的表面;在光子晶圆的金属层与电子晶圆的金属层之间形成电连接;以及通过在所暴露的表面处将中介层晶圆与晶圆组件进行接合来将中介层晶圆添加至晶圆组件。中介层晶圆包括与光子晶圆和电子晶圆中的一者或两者的金属层电耦合的贯穿过孔。该方法还包括切割晶圆组件以形成多个管芯。每个管芯的相应边缘耦合器在通过切割形成的界面处被光学暴露。
技术领域
本公开中呈现的实施例总体涉及光子器件,并且更具体地,涉及制造具有边缘耦合器的光子器件。
背景技术
光子芯片可以包括光学接口以允许从光源(例如,激光器或光纤)接收光信号和/或将光信号发送到光纤或检测器。一些光子芯片包括设置在光子芯片顶部的光栅耦合器。然而,光栅耦合器对波长和偏振是敏感的并需要非常严格的工艺控制,这往往会增加光子芯片的成本和/或降低制造良率。其他光子芯片包括边缘耦合器,这些边缘耦合器可以设置在光子芯片的侧面并且更容易制造,并且相比于光栅耦合器可以提供不依赖波长的且改进的光学耦合。
附图说明
为了能够详细理解本公开的上述特征的方式,可以通过参考实施例来获得对上文简要概括的本公开的更具体的描述,其中的一些实施例在附图中示出。然而,应当注意,附图示出了典型的实施例并因此不应被视为限制性的;还涵盖其他等效的实施例。
图1示出了根据一个或多个实施例的绝缘体上硅(SOI)器件。
图2A和图2B示出了根据一个或多个实施例的包括与电子晶圆接合的光子晶圆的示例性晶圆组件。
图3A至图3I示出了根据一个或多个实施例的用于制造光学装置的示例性顺序。
图4是根据一个或多个实施例的用于制造光学装置的示例性方法。
图5示出了根据一个或多个实施例的包括边缘耦合器的光子芯片的侧视图。
图6A至图6E示出了根据一个或多个实施例的图5的边缘耦合器的截面图。
图7A和图7B示出了根据一个或多个实施例的锥形波导的视图。
为了便于理解,在可能的情况下,使用相同附图标记来表示附图共有的相同元件。可以设想,在一个实施例中公开的元件可有益地用在其他实施例中而无需具体阐述。
具体实施方式
概述
本公开中呈现的一个实施例是一种方法,所述方法包括:将光子晶圆与电子晶圆进行接合以形成晶圆组件;去除所述晶圆组件的衬底以暴露所述光子晶圆或所述电子晶圆的表面;在所述光子晶圆的金属层与所述电子晶圆的金属层之间形成电连接;以及通过在所暴露的表面处将中介层晶圆与所述晶圆组件进行接合,来将所述中介层晶圆添加至所述晶圆组件。所述中介层晶圆包括与所述光子晶圆和所述电子晶圆中的一者或两者的金属层电耦合的贯穿过孔。所述方法还包括切割所述晶圆组件以形成多个管芯,其中,每个管芯的相应边缘耦合器在通过所述切割形成的界面处被光学暴露。
另一实施例是一种方法,所述方法包括在光子晶圆中形成多个光学元件。所述多个光学元件包括多个边缘耦合器。所述方法还包括:在电子晶圆中形成多个电子元件;将所述光子晶圆与所述电子晶圆进行接合以形成晶圆组件;在所述多个光学元件与所述多个电子元件之间形成电连接;以及通过将中介层晶圆与所述晶圆组件的外表面进行接合,来将所述中介层晶圆添加至所述晶圆组件。所述中介层晶圆包括贯穿过孔,所述贯穿过孔与所述多个光学元件和所述多个电子元件中的一者或两者电耦合。所述方法还包括切割所述晶圆组件以形成多个管芯。每个管芯的相应边缘耦合器在通过所述切割形成的界面处被光学暴露。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造