[发明专利]气相成长装置及气相成长方法在审
申请号: | 202080075012.4 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN114586133A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 南出由生;和田直之 | 申请(专利权)人: | 胜高股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C23C16/24;C23C16/46;C30B25/10;C30B29/06;H01L21/687 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张泽洲;张一舟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 相成 装置 方法 | ||
1.一种气相成长装置,利用支承晶圆的外周部的环状的载具,具备用于在前述晶圆处形成CVD膜的反应室,其特征在于,
在前述反应室,设置有基座和载具升降销,前述基座搭载载具,前述载具支承有前述晶圆,前述载具升降销使支承有前述晶圆的载具相对于前述基座相对地上下移动,
前述载具升降销在俯视观察将支承有前述晶圆的载具搭载于前述基座的状态的情况下,被比前述晶圆的外缘靠外侧地设置。
2.如权利要求1所述的气相成长装置,其特征在于,
前述载具升降销在俯视观察将支承有前述晶圆的载具搭载于前述基座的状态的情况下,设置成前述载具升降销的中心位于比前述晶圆的外缘靠外侧7mm以上位置。
3.如权利要求1或2所述的气相成长装置,其特征在于,
前述CVD膜是硅外延膜。
4.如权利要求1至3中任一项所述的气相成长装置,其特征在于,
将多个处理前的前述晶圆从晶圆收纳容器经由工厂接口、装载锁定室及晶圆移载室向在前述晶圆处形成前述CVD膜的前述反应室顺次搬运,
并且将多个处理后的前述晶圆从前述反应室经由前述晶圆移载室、前述装载锁定室及前述工厂接口向前述晶圆收纳容器顺次搬运,
前述装载锁定室经由第1门与前述工厂接口连通,并且经由第2门与前述晶圆移载室连通,
前述晶圆移载室经由闸门阀与前述反应室连通,
在前述晶圆移载室处设置有第1机器人,前述第1机器人将被搬运至前述装载锁定室的处理前的前述晶圆以支承于载具的状态投入前述反应室,并且,将在前述反应室处结束处理的处理后的前述晶圆以支承于载具的状态从前述反应室取出来搬运至前述装载锁定室,
在前述工厂接口处设置有第2机器人,前述第2机器人将处理前的前述晶圆从前述晶圆收纳容器取出,借助在前述装载锁定室待机的载具支承,并且将被搬运至前述装载锁定室的支承于载具的处理后的前述晶圆收纳至前述晶圆收纳容器,
在前述装载锁定室处设置有支承载具的架。
5.一种气相成长方法,使用支承晶圆的外周部的环状的载具,在反应室在前述晶圆处形成CVD膜,其特征在于,
在前述反应室,设置有基座和载具升降销,前述基座搭载载具,前述载具支承有前述晶圆,前述载具升降销使支承有前述晶圆的载具相对于前述基座相对地上下移动,
前述载具升降销在俯视观察将支承有前述晶圆的载具搭载于前述基座的状态的情况下,被比前述晶圆的外缘靠外侧地设置。
6.如权利要求5所述的气相成长方法,其特征在于,
前述CVD膜是硅外延膜。
7.如权利要求5或6所述的气相成长方法,其特征在于,
将多个处理前的前述晶圆从晶圆收纳容器经由工厂接口、装载锁定室及晶圆移载室向在前述晶圆处形成前述CVD膜的前述反应室顺次搬运,
并且,将多个处理后的前述晶圆从前述反应室经由前述晶圆移载室、前述装载锁定室及前述工厂接口向前述晶圆收纳容器顺次搬运。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于胜高股份有限公司,未经胜高股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202080075012.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:气相成长装置
- 下一篇:具有鲁棒深度生成模型的系统和方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造