[发明专利]断裂面检查装置和断裂面检查方法

权利要求书

1.一种检查由零件的断裂分割而产生的第一断裂面和第二断裂面的断裂面检查装置，具备：

数据获取部，获取所述第一断裂面和所述第二断裂面的各自的二维数据和三维数据；

轮廓提取部，根据所述二维数据提取所述第一断裂面的第一轮廓和所述第二断裂面的第二轮廓；

变换量计算部，计算对所述第二轮廓进行仿射变换来变换成所述第一轮廓时的变换量；

变形修正部，用所述变换量对所述第二断裂面的所述三维数据进行仿射变换来计算变形修正数据；以及

比较部，对所述第一断裂面的所述三维数据和所述变形修正数据进行比较。

2.根据权利要求1所述的断裂面检查装置，其中，

所述数据获取部从相同的位置以相同的角度获取所述二维数据和所述三维数据。

3.根据权利要求1或2所述的断裂面检查装置，其中，

所述断裂面检查装置具备：

平面计算部，根据所述三维数据计算所述第一断裂面的第一最小二乘平面和所述第二断裂面的第二最小二乘平面；以及

修正量计算部，计算将所述第一最小二乘平面变换成所述第二最小二乘平面时的修正量，

所述比较部对所述第一断裂面的所述三维数据和通过所述修正量修正后的所述变形修正数据进行比较。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的断裂面检查装置，其中，

所述断裂面检查装置具备：

起伏判定部，将所述第一断裂面和所述第二断裂面的至少一方的相对于最小二乘平面的最小二乘误差与规定的误差阈值进行比较。

5.一种检查由零件的断裂分割而产生的第一断裂面和第二断裂面的断裂面检查方法，包括：

数据获取工序，获取所述第一断裂面和所述第二断裂面的各自的二维数据和三维数据；

轮廓提取工序，根据所述二维数据提取所述第一断裂面的第一轮廓和所述第二断裂面的第二轮廓；

变换量计算工序，计算对所述第二轮廓进行仿射变换来变换成所述第一轮廓时的变换量；

变形修正工序，用所述变换量对所述第二断裂面的所述三维数据进行仿射变换来计算变形修正数据；以及

比较工序，对所述第一断裂面的所述三维数据和所述变形修正数据进行比较。

6.根据权利要求5所述的断裂面检查方法，其中，

在所述数据获取工序中，从相同的位置以相同的角度获取所述二维数据和所述三维数据。

7.根据权利要求5或6所述的断裂面检查方法，其中，

所述断裂面检查方法包括：

平面计算工序，根据所述三维数据计算所述第一断裂面的第一最小二乘平面和所述第二断裂面的第二最小二乘平面；以及

修正量计算工序，计算将所述第一最小二乘平面变换成所述第二最小二乘平面时的修正量，

在所述比较工序中，对所述第一断裂面的所述三维数据和通过所述修正量修正后的所述变形修正数据进行比较。

8.根据权利要求5-7中任一项所述的断裂面检查方法，其中，

所述断裂面检查方法包括：

起伏判定工序，将所述第一断裂面和所述第二断裂面的至少一方的相对于最小二乘平面的最小二乘误差与规定的误差阈值进行比较。