[发明专利]缺陷图像生成装置及方法在审
申请号: | 202080078506.8 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN114730462A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 尹基旭;安正敏;梁祐硕 | 申请(专利权)人: | 乐人株式会社 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00 |
代理公司: | 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 | 代理人: | 洪玉姬 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷 图像 生成 装置 方法 | ||
根据本发明的实施例的由缺陷图像生成装置执行的缺陷图像生成方法,包括如下步骤:通过调节良品面板的颜色和所述品面板的亮度中的至少一种来生成正常图像;以及在正常图像中,基于规定单位区域改变亮度来生成木拉(mura),并生成包括木拉(mura)的缺陷图像。
技术领域
在本说明书中公开的实施例涉及缺陷图像生成装置及方法。更详细地,涉及用于生成为检查产品中的缺陷而所需的缺陷图像的缺陷图像生成装置及方法。
本研究是科技信息通信部及信息通信规划评估院的全球SW专业企业发展项目的研究结果(IITP-2019-0-01423-002)。
背景技术
最近,在制造各种产品的过程中,由于各种原因,产品表面可能会出现缺陷。在这些产品中,在有机发光二极管(OLED:Organic Light Emitting Diode)面板等面板产品的情况下,其表面产生的缺陷,如木拉(mura)(或斑点),还可能会影响通过使用面板批量生产的产品本身的性能。因此,当生产面板等产品时,需要检测由mura引起的缺陷。
与此相关,在现有技术文献第10-2015-0078838号中记载了如下方法:基于有关采样的像素的补偿数据和用于补偿细斑点的细斑点补偿数据生成补偿数据,通过补偿数据调制输入影像的像素数据,以同时补偿斑点区域和细斑点。如现有技术文献中所述,以往测量面板本身产生的斑点,并生成用于补偿所测量的斑点的补偿数据来补偿面板的斑点。
像这样,为了检查面板本身产生的mura,通过一一比较面板屏幕中心的像素等特定像素与待检查像素之间的亮度来进行判定。这种方式的mura判定需要大量时间和处理工序。为了防止这种情况,通过使用人工智能来检查产品上产生的斑点的尝试正在增加。然而,使用人工智能进行检查需要用于检测斑点的缺陷数据,即缺陷图像。
但是,由于斑点是不定型的,因此其问题点在于,获取多个缺陷样本或多个缺陷图像是有限的。并且,为了提高缺陷检测的性能,需要足够数量的缺陷图像,但是其问题点在于,获取缺陷图像是有限的。
因此,需要用于解决如上所述的问题点的技术。
另一方面,前述的背景技术是发明人为推导本发明而拥有的,或者是推导本发明的过程中学到的技术信息,不能说一定是在申请本发明前向公众公开的公知技术。
发明内容
发明要解决的问题
在本说明书中公开的实施例的目的在于,提供一种可获得包括不定型的斑点(mura)的多个缺陷图像的缺陷图像生成装置及方法。
在本说明书中公开的实施例的目的在于,提供一种可确保足够数量的缺陷图像以使能够提高缺陷检测性能的缺陷图像生成装置及方法。
用于解决问题的手段
作为用于解决上述技术问题的技术手段,根据一实施例,一种由缺陷图像生成装置执行的缺陷图像生成方法包括如下步骤:通过调节良品面板的颜色和所述良品面板的亮度中的至少一种来生成正常图像;以及在所述正常图像中,基于规定单位区域改变亮度来生成mura,并生成包括所述mura的缺陷图像。
根据另一实施例,缺陷图像生成装置包括:正常图像生成器,通过调节良品面板的颜色和所述良品面板的亮度中的至少一种来生成正常图像;以及缺陷图像生成器,在所述正常图像中,基于规定单位区域改变亮度来生成mura,并生成包括所述mura的缺陷图像。
根据又一实施例,一种记录有执行缺陷图像生成方法的程序的计算机可读记录介质,所述缺陷图像生成方法包括如下步骤:通过调节良品面板的颜色和所述良品面板的亮度中的至少一种来生成正常图像;以及在所述正常图像中,基于规定单位区域改变亮度来生成mura,并生成包括所述mura的缺陷图像。
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