[发明专利]分析物监测系统中的干扰检测

权利要求书

1.分析物监测系统，包括：

分析物传感器，其包括：(i)一个或多个分析物检测器，其配置为生成一个或多个分析物测量，所述分析物测量指示第一介质中的分析物水平，(ii)一个或多个干扰物检测器，其配置为生成一个或多个干扰物测量，所述干扰物测量指示第一介质中的干扰物水平，以及(iii)收发器接口，其配置为传送所述一个或多个分析物测量和所述一个或多个干扰物测量；以及

收发器，其包括：(i)传感器接口，其配置为接收来自分析物传感器的所述一个或多个分析物测量和所述一个或多个干扰物测量；以及(ii)处理器，其配置为：使用至少所述一个或多个分析物测量和所述一个或多个干扰物测量，计算第二介质中的分析物水平。

2.分析物监测系统，包括：

分析物传感器，其包括：(i)一个或多个分析物检测器，其配置为生成一个或多个分析物测量，所述分析物测量指示第一介质中的分析物水平；以及(ii)收发器接口，其配置为传送所述一个或多个分析物测量；以及

收发器，其包括：(i)传感器接口，其配置为接收来自分析物传感器的所述一个或多个分析物测量，(ii)一个或多个干扰物传感器，其配置为生成一个或多个干扰物测量，所述干扰物测量指示第一介质中的干扰物水平，以及(iii)处理器，其配置为：使用至少所述一个或多个分析物测量和所述一个或多个干扰物测量，计算第二介质中的分析物水平。

3.根据权利要求1或2所述的分析物监测系统，其中，计算第二介质中的分析物水平包括：

使用至少所述一个或多个分析物测量，计算第一介质中的分析物水平；

使用至少所述一个或多个干扰物测量，计算第一介质中的干扰物水平；以及

使用至少计算的第一介质中的分析物水平和计算的第一介质中的干扰物水平来计算第二介质中的分析物水平。

4.根据权利要求3所述的分析物监测系统，其中，使用至少计算的第一介质中的分析物水平和计算的第一介质中的干扰物水平来计算第二介质中的分析物水平包括：

基于至少计算的第一介质中的干扰物水平，调整转换函数的一个或多个参数；以及

使用至少调整后的转换函数和计算的第一介质中的分析物水平，以计算第二介质中的分析物水平。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的分析物监测系统，其中，分析物传感器还包括分析物指标和干扰物指标。

6.根据权利要求5所述的分析物监测系统，其中，分析物指标包括分析物指标分子，并且干扰物指标包括干扰物指标分子。

7.根据权利要求6所述的分析物监测系统，其中，分析物传感器还包括指标结构，并且分析物指标分子分布遍及指标结构。

8.根据权利要求7所述的分析物监测系统，其中，干扰物指标分子分布遍及指标结构。

9.根据权利要求5-8中任一项所述的分析物监测系统，其中，分析物传感器还包括分析物激发光源，其配置为用分析物激发光照射分析物指标，并且分析物指标配置为：响应于被分析物激发光照射，发射分析物发射光，所述分析物发射光指示第一介质中的分析物水平。

10.根据权利要求9所述的分析物监测系统，其中，所述一个或多个分析物检测器包括分析物光电检测器，所述分析物光电检测器配置为输出分析物信号，所述分析物信号指示由分析物光电检测器接收的分析物发射光的量。

11.根据权利要求9或10所述的分析物监测系统，其中，分析物激发光源还配置为用分析物激发光照射干扰物指标，并且干扰物指标配置为：响应于被分析物激发光照射，发射干扰物发射光，所述干扰物发射光指示第一介质中的干扰物水平。