[发明专利]插座及检查用插座

说明书

本发明的插座具备：容纳部，具有能够容纳电子部件的凹部；开闭部，对凹部的开口部进行开闭；以及旋转支撑部，以使开闭部能够在打开状态与关闭状态之间进行旋转移动的方式支撑开闭部，开闭部具有：盖，在第一端部被旋转支撑部支撑，且从第一端部向第一方向延伸，该第一方向是在开闭部的关闭状态下与旋转移动的旋转轴方向正交的方向且是远离旋转支撑部的方向；按压部，设置于比第一端部更靠第一方向侧的位置，在开闭部的关闭状态下，按压凹部内的电子部件；卡止部，设置于比按压部更靠第一方向侧的位置，在开闭部的关闭状态下，将盖卡止于容纳部；以及被按压部，具有被按压面，以能够与盖一同进行旋转移动的方式被设置于比卡止部更远离旋转支撑部的位置。

技术领域

本发明涉及插座及检查用插座。

背景技术

以往，作为容纳集成电路(IC)等电子部件以与外部形成电连接的插座，例如已知有IC插座。在对电子部件进行出厂检查时，为了检查其电特性而使用IC插座。

为了可靠地与电子部件形成电连接，这样的插座一般具备对电子部件进行按压的结构。例如，在专利文献1所公开的插座中，用安装于盖构件的按压件对IC封装进行按压。

另外，上述插座具有支撑于盖构件的闩扣构件。在闭合插座时，作业人员将盖构件向下方按压，以使闩扣构件与外壳卡合。

闩扣构件基于与外壳的卡合，来维持盖构件相对于外壳闭合的状态。在闩扣构件与外壳卡合的状态下，盖构件通过按压件将作为电子部件的半导体装置向下方按压。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-60496号公报

发明内容

发明要解决的问题

在专利文献1中公开的上述那样的插座中，在闭合插座时，作业人员例如将盖构件的上表面中的、比闩扣构件更接近上述插座的中心的位置向下方按压。从作业效率的观点来看，在闭合插座时，优选地，作业人员按压盖构件的力(按压力)越小越好。

本发明的目的在于提供能够减少在闭合插座时施加的按压力的插座及检查用插座。

解决问题的方案

本发明的插座的一形态，具备：

容纳部，具有能够容纳电子部件的凹部；

开闭部，对凹部的开口部进行开闭；以及

旋转支撑部，以使开闭部能够在打开状态与关闭状态之间进行旋转移动的方式支撑开闭部，

开闭部具有：

盖，在第一端部被旋转支撑部支撑，且从第一端部向第一方向延伸，所述第一方向是在开闭部的关闭状态下与旋转移动的旋转轴方向正交的方向且是远离旋转支撑部的方向；

按压部，设置于比盖的第一端部更靠第一方向侧的位置，在开闭部的关闭状态下，按压凹部内的电子部件；

卡止部，设置于比按压部更靠第一方向侧的位置，在开闭部的关闭状态下，将盖卡止于容纳部；以及

被按压部，具有被按压面，以能够与所述盖一同进行旋转移动的方式被设置于比卡止部更远离旋转支撑部的位置。

本发明的检查用插座的一形态，

是在电子部件的电特性的检查中使用的检查用插座，其具有：

上述插座；以及

接触部，该接触部配置于凹部的底部，且与凹部内的电子部件电连接。

发明效果

根据本发明，在插座及检查用插座中，能够减少在闭合插座时施加的按压力。