[发明专利]显微镜装置、分光器和显微镜系统在审
申请号: | 202080081274.1 | 申请日: | 2020-11-20 |
公开(公告)号: | CN114730067A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 桑山哲朗;辰田宽和;桥本学治 | 申请(专利权)人: | 索尼集团公司 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 沈丹阳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显微镜 装置 分光 系统 | ||
1.一种显微镜装置,包括:
开口部,包括第一狭缝和第二狭缝,来自观察对象的多束光穿过所述第一狭缝和所述第二狭缝,所述多束光由具有不同波长的多束照射光发射到所述观察对象而产生;
色散元件,对穿过所述开口部的所述多束光进行波长色散;以及
成像元件,接收由所述色散元件波长色散的多束光,
其中,所述成像元件执行光接收,使得针对经波长色散的所述多束光,穿过所述第二狭缝的光的零阶光与穿过所述第一狭缝的光的一阶光彼此不重叠。
2.根据权利要求1所述的显微镜装置,还包括:照射单元,所述照射单元用具有不同波长的多束所述照射光照射所述观察对象。
3.根据权利要求1所述的显微镜装置,还包括:校正单元,所述校正单元对从所述成像元件接收到的成像数据进行处理。
4.根据权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述成像元件执行光接收,使得穿过所述第二狭缝的所述光的所述零阶光位于穿过所述第一狭缝的所述光的零阶光与所述一阶光之间。
5.根据权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述成像元件执行光接收,使得穿过所述第二狭缝的所述光的所述零阶光相对于穿过所述第一狭缝的所述光的所述一阶光位于穿过所述第一狭缝的所述光的二阶光侧。
6.根据权利要求3所述的显微镜装置,其中,针对从经波长色散的所述多束光分别获得的光信息,所述校正单元基于从穿过所述第二狭缝的所述光获得的光信息来校正从穿过所述第一狭缝的所述光获得的光信息。
7.根据权利要求1所述的显微镜装置,还包括:光学滤波器,所述光学滤波器仅允许来自所述观察对象的所述多束光中的预定波长范围内的光通过。
8.根据权利要求1所述的显微镜装置,其中,经波长色散的所述多束光中的至少一束光的一阶光的波长带包括400nm至800nm中的一部分或全部。
9.根据权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述色散元件是因光的相干性来引起波长色散的衍射光栅。
10.根据权利要求9所述的显微镜装置,其中,所述衍射光栅是槽的截面形状为锯齿状的闪耀衍射光栅。
11.根据权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述成像元件接收多束荧光,所述多束荧光通过利用用作具有不同波长的多束所述照射光的激励光照射所述观察对象而得到。
12.根据权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述开口部的狭缝距离等于或小于由物镜和成像透镜限定的、由所述成像元件提供的成像数据的视场直径。
13.根据权利要求3所述的显微镜装置,还包括:
扫描机构,随着时间来改变所述观察对象被所述照射光照射的位置,
其中,通过驱动所述扫描机构,所述成像元件随着时间连续地在扫描方向上对经波长色散的所述多束光进行成像,并且所述校正单元处理从所述成像元件接收的所述成像数据以获取所述观察对象的二维数据或三维数据。
14.根据权利要求2所述的显微镜装置,其中,所述照射单元以线状发射用作具有不同波长的多束所述照射光的激励光。
15.一种显微镜装置中的分光器,所述分光器包括:
开口部,包括第一狭缝和第二狭缝,来自观察对象的多束光穿过所述第一狭缝和所述第二狭缝,所述多束光由具有不同波长的多束照射光发射到所述观察对象而产生;
色散元件,对穿过所述开口部的所述多束光进行波长色散;以及
成像元件,接收由所述色散元件波长色散的多束光,
其中,所述成像元件执行光接收,使得针对经波长色散的所述多束光,穿过所述第二狭缝的光的零阶光与穿过所述第一狭缝的光的一阶光彼此不重叠。
16.一种显微镜系统,包括:根据权利要求1至14中任一项所述的显微镜装置;以及程序,用于处理由所述显微镜装置成像的成像数据,
其中,所述程序是用于使信息处理装置执行用于处理所述成像数据的校正处理的程序。
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