[发明专利]用于确定介电值的测量设备在审

专利信息
申请号: 202080084941.1 申请日: 2020-11-20
公开(公告)号: CN114829914A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 托马斯·布勒德特 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 介电值 测量 设备
【权利要求书】:

1.一种用于确定介质(2)的介电值的测量设备,包括:

-测量区段(11),能够使所述测量区段(11)与所述介质(2)进行接触,

-信号生成单元(12),所述信号生成单元(12)被设计成将具有限定的频率(fHF)的高频信号(sHF)注入到所述测量区段(11)中,

-评估单元(13),所述评估单元(13)被设计成

ο接收传递通过所述测量区段(11)之后的对应接收信号(rHF),

ο确定所述高频信号(sHF)与所述接收信号(rHF)之间的相移并且,

ο基于所确定的相移来确定所述介质(2)的介电值,

其特征在于

滤波器(14、14'),所述滤波器(14、14')对于所述高频信号(sHF)的所述频率(fHF)能够穿透,所述滤波器被布置成使得所接收的接收信号(rHF)和/或所生成的高频信号(sHF)被滤波。

2.根据前述权利要求中的一项所述的方法,

其特征在于

第一滤波器(14)和/或第二滤波器(14')被设计为高通滤波器。

3.根据权利要求2所述的测量设备,

其特征在于

所述高通滤波器(14、14')被设计为奇数阶滤波器,尤其是一阶滤波器,使得对应高通滤波器(14、14')在下截止频率(fg,l)以下的情况下进行阻断,而在上截止频率(fg,h)以上的情况下允许通过,所述上截止频率低于所述高频信号(sHF)的所述频率(fHF)。

4.根据权利要求3所述的测量设备,

其特征在于

所述下截止频率(fg,l)以下的所述高通滤波器(14、14')具有近似恒定的相位延迟(σ)。

5.根据前述权利要求中的一项所述的测量设备,其中,所述评估单元(13)包括用于确定所述相移的网络分析仪或相位检测器,尤其是吉尔伯特单元。

6.根据前述权利要求中的至少一项所述的测量设备,其中,所述信号生成单元(12)被设计成生成具有在0.1GHz与30GHz之间、优选地在5GHz与8GHz之间的特别是可变的频率(fHF)的高频电信号(sHF),并且

其中,所述评估单元(13)被设计成检测在对应频率(fHF)下的所述相移

7.根据前述权利要求中的至少一项所述的测量设备,其中,所述测量区段(11)被设计为导电的或导介电的测量探针(11),所述测量探针经由第一探针端(111)与所述信号生成单元(12)接触以便注入所述高频信号(sHF)。

8.根据权利要求6所述的测量设备,其中,所述测量探针(11)经由所述第一探针端(111)与所述评估单元(13)接触,使得在与所述第一探针端(111)相对的第二探针端(112)处,所述高频信号(sHF)被反射为接收信号(rHF)。

9.根据权利要求7所述的测量设备,其中,所述探针(111)经由所述第二探针端(112)而与所述评估单元(13)接触,使得所述高频信号(sHF)作为接收信号(rHF)被传输到所述第二探针端(112)。

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