[发明专利]功能膜检查方法、检查系统以及料卷

说明书

提供一种能够适当地管理功能膜的缺陷信息的功能膜的检查方法等。本发明包括：第一工序，其检查用于贴合在长条的偏振片或包含偏振片的长条的光学层叠体而制造长条的偏光膜(F2)的长条的功能膜(F1)，取得功能膜的缺陷信息；第二工序，其在功能膜的宽度方向的端部，每隔功能膜的长度方向的规定间隔打印识别信息；第三工序，其将功能膜的缺陷信息与识别信息关联地存储。

技术领域

本发明涉及用于贴合在长条的偏振片或包含偏振片的长条的光学层叠体而制造长条的偏光膜的长条的功能膜的检查方法、检查系统以及料卷。尤其涉及能够适当地管理功能膜的缺陷信息的功能膜的检查方法、检查系统以及料卷。

背景技术

以往，在液晶显示装置等使用偏光膜。偏光膜是在偏振片或包含偏振片的光学层叠体贴合功能膜而层叠的结构。

作为在偏振片贴合的功能膜，可以例示保护膜(也包括兼作相位差膜的保护膜)、相位差膜。

作为包含偏振片的光学层叠体，可以例示在偏振片层叠有保护膜的光学层叠体，作为贴合在该光学层叠体的功能膜，可以例示相位差膜、反射型偏振片、防反射膜、ITO膜等导电性膜，例如由聚酰亚胺等制造的窗薄膜等。

从长条的偏光膜到冲裁出与用途对应的尺寸的偏光膜的工序例如如下所述。

首先，检查以卷对卷方式输送的长条的偏光膜，检测在偏光膜存在的缺陷。在检测出缺陷的情况下，对缺陷的位置实施标记，卷绕偏光膜。

在作为最终制品的偏光膜(冲裁后的偏光膜)中，根据用户的规格存在各种尺寸，但作为长条的偏光膜(偏光膜原卷)可以通用的情况较多，因此预先大量制造偏光膜原卷，日后根据需要，从偏光膜原卷冲裁需要的尺寸的偏光膜制品。在冲裁偏光膜制品时，必须避开存在缺陷的位置，或者将在冲裁后对存在缺陷的位置实施了标记的偏光膜制品作为不合格品除去。

因此，在检查长条的偏光膜时，需要检测缺陷，将该缺陷的位置等作为缺陷信息事先存储。

为了适当地管理缺陷信息，提高偏光膜制品的成品率，在专利文献1中，提出了在偏光膜的宽度方向端部打印识别信息(至少确定偏光膜的长度方向的位置的信息)，将缺陷信息与识别信息关联的偏光膜的检查方法。

根据专利文献1所记载的检查方法，能够适当地管理在偏光膜的状态下产生的缺陷的缺陷信息。

但是，在偏光膜中，不仅存在在将偏振片或包含偏振片的光学层叠体与功能膜贴合而制造的偏光膜的状态下产生的缺陷，还存在在功能膜单体(与偏振片或光学层叠体贴合前的功能膜)的状态下产生的缺陷。而且，即使在偏光膜的状态下检查，有时也难以检测出在功能膜单体的状态下产生的缺陷。

因此，有时即使功能膜单体也进行检查，但以往，通过该检查检测出的缺陷的缺陷信息未被适当地管理。

另外，在卷绕功能膜时，为了防止卷绕偏移、卷绕松弛、粘连、暴筋等产生，有时对功能膜的宽度方向端部实施通过激光刻印形成微小的凹凸的滚花加工(例如，参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特许第5925609号公报

专利文献2：日本特许第5578759号公报

发明内容

发明要解决的课题

本发明是为了解决上述这样的现有技术的问题点而作出的发明，其课题在于，提供一种能够适当地管理功能膜的缺陷信息的功能膜的检查方法、检查系统以及料卷。

用于解决问题的方案