[发明专利]用于校准至少一个质谱装置的方法

权利要求书

1.一种确定样品中的分析物的浓度的方法，其中所述方法包括以下步骤：

i.进行用于校准具有第一定义的硬件配置的至少一个质谱装置(110)的方法，所述方法包括：

a)至少一个制造商现场(116)预校准步骤，其包括：

a1：为具有第二定义的硬件配置的通用型质谱装置(114)建立至少一个参考校准函数f_p，其中所述第二定义的硬件配置等效于所述第一定义的硬件配置，其中所述参考校准函数f_p描述至少一个校准品样品中的至少一种分析物的至少一个浓度c的关系，其中所述参考校准函数f_p是参数化函数

f_p(浓度)

其中p＝(p₁，p₂，...p_n)为所述参考校准函数的参数组，并且n为正整数；

a2：确定用于所述通用型质谱装置(114)的所述参考校准函数的所述参数组的校准值

b)向所述质谱装置(110)的客户(118)提供至少以下各项：用于所述通用型质谱装置(114)的参考校准函数f_p、所述通用型质谱装置(114)的校准值以及具有所述至少一种分析物的定义的目标值的至少一个校准品样品；以及

c)用于所述质谱装置(110)的至少一个客户现场(120)重新校准步骤，其包括：

c1：使用所述质谱装置(110)和所述校准品样品执行至少一次校准测量，从而生成至少一个校准信号；

c2：基于所述校准信号生成校准信息，其中在步骤c2中，通过使所述校准信号适配于所述参考校准函数来生成基于所述校准信号的所述校准信息，其中所述校准信号转化成理论信号

其中g是定义所述质谱装置的信号与所述通用型质谱装置(114)的理论信号之间的关系的信号调整函数，并且是所述信号调整函数的校准值，其中通过应用所述参考校准函数的反函数来将该理论信号转化为浓度值

ii.进行至少一次测量，包括通过使用所述质谱装置(110)测量所述样品中的所述分析物，从而接收测量结果；

iii.基于所述测量结果适配所述参考校准函数或使所述测量结果适配于所述参考校准函数

iv.基于所述测量结果确定所述分析物的浓度。

2.根据前一项权利要求所述的方法，其中在步骤c2中，通过基于所述校准信号适配所述参考校准函数来生成基于所述校准信号的所述校准信息。

3.根据前一项权利要求所述的方法，其中为了适配所述参考校准函数，可通过应用下式将函数改变为函数来确定所测量的校准品样品的浓度

其中g是定义所述质谱装置的信号与所述通用型质谱装置(114)的理论信号之间的关系的信号调整函数。

4.根据两项前述权利要求中任一项所述的方法，其中基于所述校准信号适配所述校准值

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述通用型质谱装置(114)的所述参考校准函数的参数组的维度n超过所述信号调整函数的参数组的维度m：nm，具体地nm+1。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中至少一个附加的信号调整机制被并入，其中所述附加的信号调整机制包括用于校准至少一个质谱装置(110)的方法的有效性的扩展。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述信号调整函数是线性函数。

8.根据两项前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述方法包括附加的第一信号调整，其中基于动力学数据调整第一信号。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述参考校准函数是线性函数。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中用最多两个或三个校准品样品进行所述方法步骤c)。