[发明专利]高频测试接触元件和测试探针设备在审
申请号: | 202080095160.2 | 申请日: | 2020-08-26 |
公开(公告)号: | CN115485568A | 公开(公告)日: | 2022-12-16 |
发明(设计)人: | 奥特马尔·菲舍尔;威廉·施罗夫;彼得·布鲁尔;大卫·斯图尔德雷尔-考法姆;蒂姆·希尔特 | 申请(专利权)人: | 英冈测试设备有限责任公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人: | 刘晔;王刚 |
地址: | 德国康*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高频 测试 接触 元件 探针 设备 | ||
本发明涉及一种用于在接触配对物,特别是板对板插头连接器,和测试探针设备之间可释放地建立接触的高频测试接触元件(10),所述测试接触元件包括薄片主体(10a),该薄片主体在一个终端具有用于接触接触配对物(30)的第一接触区域(1);用于接触接收测试接触元件的接触探针设备(20)的相对的第二接触区域(2);以及曲折弹性区域(3),该曲折弹性区域位于两者之间并且具有沿着该弹性区域的运行方向(V)延伸的优选地居中布置的空腔(5),该空腔是为沿着测试接触元件(10)的纵向延伸方向(L)的弹性而设置的,其中曲折弹性区域(3)具有多个具有5°至70°的相应弯曲角度(α1,α2,β1,β2)的弯曲元件(8a,8b,8c,8d),这些弯曲元件在运行方向(V)上彼此跟随。本发明还涉及一种包括根据本发明的测试接触元件(10)的高频测试探针设备(20),以及涉及一种用于根据本发明的高频测试探针设备(20)的测试接触附接件(40)。
技术领域
本发明涉及一种高频测试接触元件,并且涉及一种用于在高频范围内与接触配对物建立非永久性电接触的测试销设备。
背景技术
具有接触头的高频测试销设备从现有技术中通常是已知的,并且用于测试领域或用于其他测试目的,以便测试测试配对物(例如包括合适插座区段的电子部件群组)的功能。为此,测试销设备作为插头附接到待测试的接触配对物,或者借助于设置在一个端部上或延伸到该端部的接触元件(例如接触销或接触薄片)与待测试的接触配对物接触。随后,测试信号经由合适的电接触施加到接触配对物。
在定期实行的测试操作中,借助于测试销设备和相对应的待测试的测试物的相对接近度,通常以周期性的间隔发生接合序列,需要测试过程期间的高接触质量(特别是在高频技术领域中),因为有故障的电接触不仅导致更高的磨损并因此导致受损的使用寿命,而且导致有故障的电阻调节并因此导致波形调节,从而导致不希望的反射并因此可能地导致有故障的接触结果和测量结果。同时,需要针对高频信号的传输性质进行优化(特别是最小化可能的信号损失的可能性)的接触元件和设备的设计。
说明书WO 2019/138505A1描述了一种用于高频范围内的测试设备的测试头销,该测试头销包括连接到相对应的相对接触区段的第一和第二线性薄片状区域,并且包括中间弹性区域,该中间弹性区域具有沿着延伸方向延伸的中心空腔。弹性区域包括在延伸方向上成排设置的几个弯曲区段,弯曲区段的相对应的曲线或弯曲角度在90°和180°之间。
CN 109782034A描述了一种用于高频范围的测试头销和相关联的测试设备。测试头销被实现为连续的冲压零件,并且具有用于在接触配对物之间建立电接触的接触区段和用于连接测试设备的电路板的连接区段。在接触区段和连接区段之间形成包括多个强弯折或弯曲的弯曲区段的弹性臂。
发明内容
基于现有技术的已知状态,本发明的目的是提供两者实现优化的高频信号传输并且同时实现待测试的接触配对物的可靠电接触的一种改进的接触元件和一种测试销设备。
这个目的通过根据独立权利要求的接触元件和测试销设备来实现。从属权利要求描述了本发明的有利实施例。而且,本发明还解决了在以下描述中讨论的进一步的问题。
在第一方面,本发明涉及一种用于在接触配对物,特别是板对板插头连接器,和测试销设备之间建立非永久性电接触的高频测试接触元件,该高频测试接触元件包括薄片形基底主体,该薄片形基底主体具有在一个端部上的用于与接触配对物建立接触的第一接触区域、用于在容纳测试接触元件的接触销设备之间建立电接触的相对的第二接触区域、以及具有优选地居中设置的空腔的中间曲折形弹性区域,该空腔沿着弹性区域的延伸方向延伸并且用于沿着测试接触元件的纵向延伸方向悬置,该曲折形弹性区域具有多个在延伸方向上彼此跟随并且具有5°至70°的弯曲角度的弯曲元件。
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