[发明专利]用于对从静区中心偏移的被测天线执行测量的系统和方法

权利要求书

1.一种在测试室中确定被测天线(AUT)的等效全向辐射功率(EIRP)或有效全向灵敏度(EIS)中的至少一个的方法，所述AUT包括天线阵列，所述天线阵列具有从所述测试室的静区的中心偏移的阵列相位中心，所述方法包括：

使用位于距所述AUT固定近场距离处的多个侧向偏移位置处的探针天线执行对所述AUT的天线方向图的局部波束峰值方向扫描，以确定所述AUT的波束峰值方向，其中，所述探针天线具有已知的探针天线方向图；

使用在径向方向上位于距所述AUT多个近场距离处的所述探针天线在确定的波束峰值方向上执行对所述AUT的EIRP近场测量和/或EIS近场测量；

沿着所述确定的波束峰值方向推导对所述AUT的所述EIRP近场测量和/或所述EIS近场测量的远场等效物；以及

推导所述AUT的所述波束峰值方向。

2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

基于所述局部波束峰值方向扫描以及使用在所述径向方向上位于距所述AUT多个近场距离处的所述探针天线在所述确定的波束峰值方向上对所述AUT的所述EIRP近场测量和/或所述EIS近场测量来确定所述天线阵列的所述阵列相位中心的偏移位置。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，确定所述天线阵列的所述阵列相位中心的偏移位置包括：

确定所述阵列相位中心在所述确定的波束峰值方向与所述径向方向之间的侧向偏移，其中，所述侧向偏移是所述探针天线在AUT的所述波束峰值方向上的侧向偏移位置；以及

通过将所述探针天线的所述侧向偏移位置固定到AUT在所述波束峰值方向上的所述侧向偏移位置并在固定的侧向偏移位置的方向上在所述探针天线的多个近场距离处执行EIRP测量来确定所述阵列相位中心的径向偏移，

其中，所述近场距离的绝对值是待确定的，并且所述近场距离中的相邻近场距离之间的间隔是已知的。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，推导所述AUT在远场距离(d_f)处的EIRP近场包括如下求解EIRP(d_f)：

其中，EIRP(d₁)是在所述多个近场距离中的第一近场距离(d₁)处测量的EIRP，d是所述多个近场距离，dΔd是所述距离d的微分，并且是如下确定的功率比距离的导数：

其中，a是待确定的膨胀系数，并且Δ(d)是的冗余项，所述冗余项由阶比d^-2更低的项组成，其中，Δ(d)被忽略。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，用于确定所述阵列相位中心的所述径向偏移的、所述探针天线的所述多个近场距离中的第一近场距离等于d₁，并且其中，d₁的值通过以下方式来确定：

将方程式(1)和方程式(2)组合以提供：

其中，a和d₁是未知参数；

在第二近场距离(d₂)和第三近场距离(d₃)处执行对所述EIRP的测量，以获得测量的EIRP(d₂)和测量的EIRP(d₃)，其中，所述第二近场距离(d₂)等于所述第一近场距离(d₁)加已知的第一间隔(Δd₁)，并且所述第三近场距离(d₃)等于所述第二近场距离(d₂)加已知的第二间隔(Δd₂)，其中，所述EIRP(d_f)还表达为：

求解方程式(3)、(4)和(5)，以推导未知参数a和d₁以及所述EIRP(d_f)。