[发明专利]一种铜互连层及铜互连层大马士革工艺方法在审
申请号: | 202110005987.6 | 申请日: | 2021-01-05 |
公开(公告)号: | CN114725007A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 孟昭生;吴荘荘;季明华 | 申请(专利权)人: | 芯恩(青岛)集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/538 |
代理公司: | 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 | 代理人: | 高园园 |
地址: | 266500 山东省青岛市黄岛区*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 互连 大马士革 工艺 方法 | ||
1.一种铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,包括:
在衬底上形成介质层;
在所述介质层中形成通孔及沟槽;
在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部形成阻挡层,所述阻挡层包含金属晶体粘附层或者包含石墨烯层;
在所述通孔及沟槽中填充铜,形成铜互连层。
2.根据权利要求1所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,当所述阻挡层包含金属晶体粘附层时,在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部形成阻挡层还包括以下步骤:
在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部形成金属和/或金属化合物作为第一阻挡层;
在所述通孔的侧壁以及所述沟槽的侧壁上的所述第一阻挡层上方通过物理气相沉积形成金属晶体粘附层。
3.根据权利要求1所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,当所述阻挡层包含金属晶体粘附层时,在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部形成阻挡层还包括以下步骤:
在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部形成金属和/或金属化合物作为第一阻挡层;
在所述通孔的侧壁以及所述沟槽的侧壁上的所述第一阻挡层上方通过化学气相沉积形成无定型金属衬垫层;
在所述无定型金属衬垫层上方通过物理气相沉积形成金属晶体粘附层。
4.根据权利要求2或3所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,所述金属晶体粘附层为晶体Co层或者晶体Ru层或者晶体Os层。
5.根据权利要求3所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,所述无定型金属衬垫层为无定型Co层或者无定型Ru层或者无定型Os层。
6.根据权利要求3所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,所述无定型金属衬垫层的厚度介于1nm~3nm,所述金属晶体粘附层的厚度介于1nm~2nm。
7.根据权利要求1所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,所述金属晶体粘附层的厚度介于1nm~5nm。
8.根据权利要求1所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,所述金属晶体粘附层中的金属晶体具有六方密排结构或者面心立方结构。
9.根据权利要求1所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,当所述阻挡层包含石墨烯层时,在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部形成阻挡层还包括以下步骤:
在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部经化学气相沉积形成无定型碳,在所述无定型碳和所述介质层的界面处形成石墨烯层,所述阻挡层为无定型碳/石墨烯复合层。
10.根据权利要求1所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,当所述阻挡层包含石墨烯层时,在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部形成阻挡层还包括以下步骤:
在所述通孔的侧壁及底部以及所述沟槽的侧壁和底部经化学气相沉积形成无定型碳层,在所述无定型碳和所述介质层的界面处形成石墨烯层,所述阻挡层为无定型碳/石墨烯复合层;
在所述通孔的侧壁以及所述沟槽的侧壁上的所述无定型碳/石墨烯复合层上方沉积金属和/或金属化合物作为第一阻挡层。
11.根据权利要求9或10所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,化学气相沉积的温度介于300℃~400℃。
12.根据权利要求9或10所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,所述石墨烯层的厚度小于1nm。
13.根据权利要求2或3或10所述的铜互连层大马士革工艺方法,其特征在于,所述第一阻挡层为TaN层或者TaN/Ta叠层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造