[发明专利]具有弯曲弹簧的探测器、转动头和测试仪

说明书

本发明涉及一种用于转动头(1)的探测器(19,27)，它具有至少一个绕转动轴线(8)可转动地安装的支承臂(21,28,29)、至少一个与该支承臂(21,28,29)联接的探头(22,31)以及至少一个能支承在该转动头(1)上且作用于该支承臂(21,28,29)的弹簧件(20,30)，该弹簧件设置用于对该支承臂(21,28,29)施力，该支承臂因所述力而经受与该转动轴线(8)相关的转矩。该支承臂(21,28,29)具有至少一个与该转动轴线(8)同心的用于弹簧件(20,30)的容座(23)，该弹簧件在安置于该容座(23)处时至少部分绕该转动轴线(8)弯曲。因此，在转动头(1)工作中作用于弹簧件(20,30)的离心力没有影响弹簧件(20,30)的拉紧。

技术领域

本发明涉及用于转动头的探测器，其具有至少一个绕转动轴线可转动地安装的支承臂、至少一个与该支承臂相连的探头以及至少一个可支承在该转动头上的且作用于该支承臂的弹簧件，该弹簧件设置用于对该支承臂施力，支承臂因为所述力而经受与该转动轴线相关的转矩。本发明还涉及具有至少一个这样的探测器的转动头以及具有至少一个这样的探测器和/或至少一个这样的转动头的测试仪。

背景技术

尤其是为了借助涡电流方法或漏磁方法检查杆状圆形金属半成品是否有缺陷如裂纹和缩孔，采用被设计成回转系统的测试仪。在这样的回转系统中，探测器安置在测试仪的可转动的转动头上。因为当长条形的待测件通过居中的通孔被移动穿过转动头时转动头连同安置在其上的探测器被转动，故探测器相对于待测件沿螺旋形运动轨迹运动。为了能测量由待测件缺陷部位引起的磁场变化，探测器的针对涡电流方法所预设的探头必须按照预定距离或尽量靠近待测件表面就位。而在漏磁方法中，探头接触待测件并且划擦其表面。在此，它们磨损并且必须定期更换。因此缘故，探头作用于待测件表面的压紧力应该尽量小，而探头未从待测件抬离，因为探头抬起干扰或甚至妨碍测试。

因此，DE102012108241A1公开了一种用于呈回转系统形式的用于借助漏磁或涡电流无损测试长条形待测件的测试仪的探测器或探头载体。探头载体设计成模块式和可插入，从而可以快速实现测试仪适配于变化的待测件直径。

其它已知的探测器例如像DE102015214232A1所示的探测器具有可绕转动中心自由运动安装的支承臂。在按照双臂杠杆形式安装的支承臂的一端设置有探头，在支承臂的与该端对置的一端设置有对重。借助作用于支承臂的且安装在转动头上的拉伸弹簧，在支承臂上引起力和进而转矩。只要待测件例如无规律地运动经过转动头的通孔，则探头可以因为承载它的支承臂的可转动安装而相应避开。借助对重以及作用于支承臂的拉伸弹簧，可以在预定的转动头转速和预定的待测件直径情况下按照距待测件表面的预定距离调节探头位置以及或许调节探头作用于待测件的压紧力。

在转动头转动期间，该弹簧件遇到离心力。根据转动头的转速且根据支承臂的位置而定，由弹簧件施加至支承臂的力出现变化，进而作用于支承臂的以转动轴线为中心的转矩也变化。由此，尤其该探头相对于待测件的压紧力或位置受到影响。如果探头作用于待测件的压紧力增大，则探头磨损变得严重。而如果压紧力减小，则视测试为漏磁方法亦或涡电流方法而定，探头可能从待测件抬离或者增大其距待测件的距离，由此测试被干扰或完全无法进行。

为了在大型待测件和相应的转动头转速情况下探头未抬离待测件表面且由此测试过程在漏磁方法中被中断，人们实际上倾向于将弹簧力和进而探头作用于待测件的压紧力设计得过高，或者降低转动头转速。但是，大的压紧力导致在待测件表面上划擦的探头的严重磨损，而转动头转速的降低导致待测件的流通量降低。在实践中，在涡电流方法中探头距待测件表面的距离的具体调节因为转速和待测件直径的影响也大体变得困难。

发明内容

因此，本发明的任务是提供一种探测器、一种转动头和一种测试仪，它们允许与离心力无关地关于待测件调节探头。

该任务通过具有权利要求1的特征的探测器、具有权利要求9的特征的转动头和具有权利要求10的特征的测试仪来完成。