[发明专利]一种降低冲击接地阻抗的方法及非等径接地装置

权利要求书

1.一种降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、获取杆塔所在地区的土壤参数，建立土壤模型，根据杆塔参数和非等径接地装置参数建立杆塔模型和非等径接地装置模型；

S2、基于土壤模型、杆塔模型和非等径接地装置模型，设定杆塔的冲击接地阻抗限值Z_max，并给定非等径接地装置模型的初始参数；

S3、根据预设算法获得非等径接地装置的M种尺寸组合方式，设x为非等径接地装置的第x种尺寸组合方式，其中1≤x≤M；

S4、获得第x冲击接地阻抗值Z_x，并将获得的第x冲击接地阻抗值Z_x与杆塔的冲击接地阻抗限值Z_max进行比较；

S5、当Z_x小于等于Z_max时，第x冲击接地阻抗值Z_x对应的非等径接地装置的第x尺寸组合方式即为目标结果；

当Z_x大于Z_max时，将x加1并重新执行S4至S5步骤；

S6、依据目标结果的非等径接地装置的尺寸组合方式制作非等径接地装置测试样品；

S7、将非等径接地装置测试样品安装于杆塔上进行冲击接地阻抗测试试验，并将测试结果与普通接地装置的结果进行比较；

所述非等径接地装置包括一体成型且同轴设置的第一导体（1）、第二导体（2）和第三导体（3），所述第一导体（1）、所述第二导体（2）和所述第三导体（3）的半径依次减小，所述第一导体（1）、所述第二导体（2）和所述第三导体（3）的长度不同。

2.根据权利要求1所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，S4中获得第x冲击接地阻抗值的方法包括以下步骤：

H1、将非等径接地装置分成若干导体段，设导体段的数量为n；

H2、依据n段导体段对应产生的漏电流在第k段导体段的中点产生的电位，获得第k段导体段的轴向电流，其中1≤k≤n；

H3、根据基尔霍夫电流定律和第k段导体段的轴向电流，获得n段导体段产生的漏电流，即非等径接地装置的漏电流；

H4、依据非等径接地装置模型的初始参数以及非等径接地装置的漏电流获得非等径接地装置单位电流下的冲击电位升，以获得非等径接地装置的冲击接地阻抗。

3.根据权利要求1所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，通过电磁探测法获得杆塔所在地区的土壤参数。

4.根据权利要求1所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，第x冲击接地阻抗值对应于杆塔以及安装于杆塔上的非等径接地装置的整体。

5.根据权利要求1所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，非等径接地装置设置有多个，多个非等径接地装置均匀分布于杆塔的周向。

6.根据权利要求1所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，预设算法为遗传算法、模拟退火算法、蚁群算法、神经网络算法或禁忌搜索算法。

7.根据权利要求1所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，所述第一导体（1）远离所述第二导体（2）的一端与所述杆塔连接。

8.根据权利要求1所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，所述第一导体（1）、所述第二导体（2）和所述第三导体（3）的半径分别为0.05m、0.03m和0.01m。

9.根据权利要求8所述的降低冲击接地阻抗的方法，其特征在于，所述第一导体（1）、所述第二导体（2）和所述第三导体（3）的长度分别为10m、8m和7m。