[发明专利]折反式多光轴同轴度动态检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 202110015574.6 申请日: 2021-01-07
公开(公告)号: CN112648942B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 江伦;代天君;李小明;张家齐;高亮;李响;董岩;常帅;安岩;宋延嵩;董科研;佟首峰 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G01M11/02;H01S3/10;H01S5/06
代理公司: 北京中理通专利代理事务所(普通合伙) 11633 代理人: 刘慧宇
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 反式 光轴 同轴 动态 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.折反式多光轴同轴度动态检测装置,其特征是,该装置包括窗口(1)、抛物镜(2)、折转反射镜(3)、准直镜头(4)、电控衰减片(5)、能量分光片一(6)、起偏器一(7)、PS光光瞳检测相机(8)、能量分光片二(9)、起偏器二(10)、聚焦镜头一(11)、PS光光轴检测相机(12)、1/4波片(13)、1/2波片(14)、偏振分光片(15)、聚焦镜头二(16)、P光光轴检测相机(17)、反射镜(18)、聚焦镜头三(19)和S光光轴检测相机(20);

窗口(1)、抛物镜(2)、折转反射镜(3)、准直镜头(4)组成二级缩束系统;准直镜头(4)、电控衰减片(5)、能量分光片一(6)、起偏器一(7)和PS光光瞳检测相机(8)依次同轴安装;能量分光片一(6)、能量分光片二(9)、1/4波片(13)、1/2波片(14)、偏振分光片(15)和反射镜(18)依次同轴安装;能量分光片二(9)、起偏器二(10)、聚焦镜头一(11)和PS光光轴检测相机(12)依次同轴安装且组成PS光光轴检测支路;偏振分光片(15)、聚焦镜头二(16)和P光光轴检测相机(17)依次同轴安装且组成P光光轴检测支路;反射镜(18)、聚焦镜头三(19)和S光光轴检测相机(20)依次同轴安装且组成S光光轴检测支路;

待检测高能激光系统发射由P光和S光组成的激光束,激光束透过窗口(1)入射到抛物镜(2)进行反射,反射光经过窗口(1)后表面反射到折转反射镜(3)后反射进入准直镜头(4),准直镜头(4)出射的准直光透过电控衰减片(5)入射到能量分光片一(6),透过能量分光片一(6)的激光束入射到起偏器一(7),激光束透过起偏器一(7)后由PS光光瞳检测相机(8)接收;由能量分光片一(6)反射的激光束入射到能量分光片二(9),激光束经能量分光片二(9)反射后入射到起偏器二(10),激光束透过起偏器二(10)通过聚焦镜头一(11)会聚到PS光光轴检测相机(12)上;能量分光片二(9)透射的激光束依次透过1/4波片(13)和1/2波片(14)入射到偏振分光片(15),偏振分光片(15)将激光束中的P光和S光分开,P光反射由聚焦镜头二(16)会聚到P光光轴检测相机(17)上;透过偏振分光片(15)的S光由反射镜(18)反射到聚焦镜头三(19)上,P光经过聚焦镜头三(19)会聚S光光轴检测相机(20)上。

2.根据权利要求1所述的折反式多光轴同轴度动态检测装置,其特征在于,所述窗口(1)接收的波长范围为1040-1090nm,入射角度为15°±2°,前表面镀高透膜,且P光和S光透射率均大于99.8%;后表面镀半反半透膜,且P光和S光透射率为50±2%;前后表面膜系耐强光。

3.根据权利要求1所述的折反式多光轴同轴度动态检测装置,其特征在于,所述能量分光片一(6)和能量分光片二(9)的分光比均为95:5,工作角度为45°。

4.根据权利要求1所述的折反式多光轴同轴度动态检测装置,其特征在于,所述偏振分光片(15)的S光反射率Rs>95%,P光和S光透射率比值为Tp:Ts10000:1,工作角度45°。

5.根据权利要求1所述的折反式多光轴同轴度动态检测装置,其特征在于,所述反射镜(18)反射率大于95%,工作角度45°。

6.折反式多光轴同轴度动态检测装置的检测方法,其特征是,该方法包括以下步骤:

步骤1,待检测高能激光系统发射由S光和P光组成的一束激光束,激光束透过窗口(1)入射到抛物镜(2)进行反射,反射光经过窗口(1)后表面反射到折转反射镜(3)后反射进入准直镜头(4),准直镜头(4)出射的准直光;

步骤2,电控衰减片(5)对准直光能量进行衰减,准直光由电控衰减片(5)衰减光能量后入射到能量分光片一(6),能量分光片一(6)将激光束分为两束,透射激光束入射到起偏器一(7),起偏器一(7)将激光束中P光和S光能量进行均衡,激光束透过起偏器一(7)由PS光光瞳检测相机(8)接收并对激光束中的P光和S光光斑同时成像,进行P光和S光的光斑重合度检测,由能量分光片一(6)反射的激光束入射到能量分光片二(9);

步骤3,能量分光片二(9)将入射激光束分为两束,反射激光束入射到起偏器二(10),起偏器二(10)将激光束中P光和S光能量进行均衡,激光束透过起偏器二(10)通过聚焦镜头一(11)会聚到PS光光轴检测相机(12)上,对激光束中的P光和S光同时成像,提取光斑质心位置,以接近于稳态的光轴作为闭环零点,计算另外一个可移动光斑相对于闭环零点的脱靶量,并将脱靶量信息反馈给待检测高能激光系统,进行P光和S光的光轴调节;

步骤4,能量分光片二(9)透射的激光束依次入射到1/4波片(13)和1/2波片(14),1/4波片(13)和1/2波片(14)对入射激光束的偏振态进行调整,使得依次透过1/4波片(13)和1/2波片(14)的出射激光束中的P光和S光在偏振分光片(15)处能完全分开;

步骤5,偏振分光镜(15)反射的P光由聚焦镜头二(16)会聚到P光光轴检测相机(17)上,透射的S光经反射镜(18)反射到聚焦镜头三(19)上,S光由聚焦镜头三(19)会聚到S光光轴检测相机(20)上,P光光轴检测相机(17)和S光光轴检测相机(20)分别对P光和S光进行光斑成像;

步骤6,待检测高能激光系统对目标进行跟踪时,此时P光光轴检测相机(17)和S光光轴检测相机(20)分别对P光和S光光斑成像,且将此时P光光轴检测相机(17)和S光光轴检测相机(20)记录的P光和S光的光斑质心位置作为闭环零点;

步骤7,待检测高能激光系统出射高能量密度激光束时,高能量密度的激光束会发生抖动,P光光轴检测相机(17)和S光光轴检测相机(20)分别根据步骤(6)得到的闭环零点,并输出P光和S光脱靶量信息传递给待检测高能激光系统;

步骤8,PS光光轴检测相机(12)、P光光轴检测相机(17)和S光光轴检测相机(20)将各自脱靶量信息反馈给待检测高能激光系统,待检测高能激光系统根据脱靶量信息进行光轴的实时调整,使得输出激光束能量密度增大。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春理工大学,未经长春理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110015574.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top