[发明专利]显示面板及电子设备

说明书

本发明公开了一种显示面板及电子设备，该显示面板包括显示区域，包括多个触控电极；检测区域，包括：多个检测端子，用于输入测试信号；多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接。本发明的显示面板及电子设备，可以避免显示区域受损，提高了产品良率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板及电子设备。

背景技术

为了减小显示面板的厚度，通常在显示面板上直接制作触控层，从而便于折叠。

目前触控层包括多个触控电极，触控电极通过检测线与检测端子连接，检测端子输入有检测信号，然而在显示面板的基底制作过程中或者像素驱动电路的测试过程中容易积累静电，静电容易通过检测线传递至显示区域内，使得显示区域受损，从而降低了产品良率。

发明内容

本发明提供一种显示面板及电子设备，可以避免显示区域受损，提高了产品良率。

本发明提供一种显示面板，所述显示面板包括：

显示区域，包括多个触控电极；

检测区域，包括：

多个检测端子，用于输入测试信号；

多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；

多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接。

可选地，所述检测线通过电阻与所述金属走线连接。

可选地，所述电阻与所述显示区域内的半导体层同层设置。

可选地，多条所述检测线包括多条第一检测线和多条第二检测线，所述第一检测线与所述第二检测线交错设置；

所述多条金属走线包括多条第一金属走线和多条第二金属走线；

所述第一检测线与对应的所述第一金属走线连接；所述第二检测线与对应的所述第二金属走线连接；其中所述第一金属走线与所述第二金属走线位于不同的金属层。

可选地，所述第一金属走线与所述第一检测线的连接点的位置与所述第二金属走线与所述第二检测线的连接点的位置不重叠。

可选地，所述第一检测线的材料与所述第二检测线的材料相同。

可选地，所述第一检测线的长度与所述第二检测线的长度不等。

可选地，所述检测端子通过连接线与所述检测线连接，所述连接线与所述第一金属走线或者所述第二金属走线同层设置且材料相同。

可选地，所述显示区域还包括：

多个接入端子；所述接入端子与所述金属走线一一对应，所述金属走线通过对应的接入端子与所述触控电极连接。

本发明还提供一种电子设备，其包括上述显示面板。

本发明的显示面板及电子设备，包括显示区域，包括多个触控电极；检测区域，包括：多个检测端子，用于输入测试信号；多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接；由于检测线与触控电极同层设置；因此即使在显示面板的基底制作过程中或像素驱动电路的测试过程积累有静电也无法传递至显示区域，因此避免显示区域受损，提高了产品良率。