[发明专利]一种适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统

说明书

本发明涉及适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统，其包括支撑架、激光镭射测距仪以及旋转驱动单元。支撑架横跨皮带输送机，且包括有前置支撑板、后置支撑板以及横置承力板。前置支撑板、后置支撑板对称地布置于皮带输送机的前、后侧，以共同用来托顶横置承力板。旋转驱动单元由横置承力板进行支撑。激光镭射测距仪布置于横置承力板的正下方，且在旋转驱动单元的驱动力作用下进行圆形旋转运动。整个检测过程省时省力，且不受检测工人操作经验以及工作状态的影响，进而杜绝了“漏检”、“误检”现象的发生。另外，在测量进程中，激光镭射测距仪始终围绕一基准轴进行旋转运动，且保持于同一位置高度，从而确保了瓷盘盘缘轮廓度测量的精准性。

技术领域

本发明涉及陶瓷品外观检测技术领域，尤其是一种适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统。

背景技术

瓷盘是由瓷石、高岭土、石英石、莫来石等烧制而成，外表施有玻璃质釉或彩绘的物器，瓷器的成形要通过在窑内经过高温(约1280℃-1400℃)烧制，瓷器表面的釉色会因为温度的不同从而发生各种化学变化。瓷器分为多种，一般都是利用手工或者模具使得其形成一定的形状，使得其稍微变干之后，对其测沿和侧面进行一次检测，然后在进行烧制，烧制到一定程度时，在对其表面进行二次检测，防止在高温的作用下发生应力性的形变，检测之后添补、刻画或者上釉，最后进行定型烧制。

轮廓度是指被测实际轮廓相对于理想轮廓的变动情况。现在技术中，通常采用人眼视力、辅以靠尺以检测瓷盘盘缘的轮廓度，即当盘缘不同区域之间的形状公差或尺寸公差超过规定值时，即判定该瓷盘的盘缘轮廓度不合格。整个检测过程费时费力，大大增加了用工成本，且受到检测工人操作经验以及工作状态的影响极易发生“漏检”、“误检”现象。因而，亟待技术人员解决上述问题。

发明内容

故，本发明设计人员鉴于上述现有的问题以及缺陷，乃搜集相关资料，经由多方的评估及考量，并经过从事于此行业的多年研发经验技术人员的不断实验以及修改，最终导致该适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统的出现。

为了解决上述技术问题，本发明涉及了一种适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统，其与皮带输送机相配套应用，以对经由皮带输送机输送的瓷盘进行检测。适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统包括有支撑架、激光镭射测距仪以及旋转驱动单元。支撑架横跨皮带输送机，且其包括有前置支撑板、后置支撑板以及横置承力板。前置支撑板、后置支撑板对称地布置于皮带输送机的前、后侧，以共同用来托顶横置承力板。旋转驱动单元由横置承力板进行支撑。激光镭射测距仪布置于横置承力板的正下方，且在旋转驱动单元的驱动力作用下进行圆形旋转运动。

作为本发明技术方案的进一步改进，旋转驱动单元包括有中空旋转平台和连接过渡件。中空旋转平台固定于横置承力板上。连接过渡件与激光镭射测距仪固定为一体，且整体实现与中空旋转平台的连接。

作为本发明技术方案的更进一步改进，连接过渡件由横置板、竖置板以及联接螺钉构成。横置板与中空旋转平台可拆卸地进行固定。竖置板直接用于安装激光镭射测距仪，且借助于联接螺钉实现与横置板的角接。在横置板开设有供联接螺钉自由穿越的联接通孔，而由竖置板的顶壁相下延伸出有供联接螺钉旋合的螺纹孔。联接通孔为长条腰形孔，且沿着前后方向进行延伸。

作为本发明技术方案的进一步改进，适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统还包括有前置辅助支撑座、后置辅助支撑座。前置辅助支撑座布置于前置支撑板的正前方，且始终对前置支撑板进行顶靠。后置辅助支撑座布置于后置支撑板的正后方，且始终对后置支撑板进行顶靠。

作为本发明技术方案的进一步改进，适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统还包括有托顶单元。托顶单元布置于皮带输送线的正下方，且与激光镭射测距仪相对位而置。当待检测的瓷盘停靠于激光镭射测距仪的正下方时，托顶单元发生动作，以托顶瓷盘相向于激光镭射测距仪进行位移运动。