[发明专利]一种μ子成像方法

权利要求书

1.一种μ子成像方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤A，μ子从待成像物体的上方入射至待成像物体；

步骤B，获得所有的重建μ子径迹，各重建μ子径迹是指在待成像物体上方检测到的满足条件t2-t1≤ΔT的μ子径迹段，其中，t1为在待成像物体上方检测到μ子入射的时刻点，t2为在待成像物体侧周检测到γ光的时刻点，ΔT为设定值；

步骤C，基于重建μ子径迹，分别获得待成像物体的俯视图、正视图和侧视图；

所述步骤C中，通过下述方法获得待成像物体的俯视图：

步骤C101，在与待成像物体的俯视方向垂直的俯视平面XOY上按照方法F₍₁₎₁和方法F₍₁₎₂对重建μ子径迹分类，共将重建μ子径迹划分为MN种，其中：

按照方法F₍₁₎₁对重建μ子径迹进行分类是指：以俯视平面XOY上重建μ子径迹与X轴之间的夹角θ₁为依据，将重建μ子径迹划分为M个种类；

按照方法F₍₁₎₂对重建μ子径迹进行分类是指：以d₁为依据，将重建μ子径迹划分为N个种类；其中，A₁、B₁、C₁满足重建μ子径迹在俯视平面XOY上的直线方程A₁x+B₁y+C₁＝0；

步骤C102，获得俯视平面XOY的K个像素单元，同时构建驱动矩阵A_(1)(MN)×K，其中，A_(1)(MN)×K中第i行第j列的元素A_(1)ij的值为第i种重建μ子径迹在XOY平面中第j个像素单元内的相对贡献度X_(1)ij/X_(1)i，X_(1)ij表示第i种重建μ子径迹在XOY平面中第j个像素单元内的长度，X_(1)i表示第i种重建μ子径迹在XOY平面中的总长度；

步骤C103，构建期望矩阵P_(1)(MN)×1，其中，P_(1)(MN)×1中第i行第1列的元素P_(1)i1的值为XOY平面中第i种重建μ子径迹的总数；

步骤C104，构建矩阵f_(1)K×1，其中，f_(1)K×1中第j行第1列的元素f_(1)j×1的初始值为1；

步骤C105，按照下述方法对矩阵f_(1)K×1进行迭代求解：

计算比率矩阵R_(1)(MN)×1，其中R_(1)(MN)×1中第i行第1列的元素R_(1)i1的值为

若R_(1)(MN)×1≠1，则按照公式对矩阵f_(1)K×1进行更新，为更新后的f_(1)K×1中第j行第1列的元素值，为更新前的f_(1)K×1中第j行第1列的元素值；

若R_(1)(MN)×1＝1，则迭代停止并将最后一次迭代计算得到的矩阵f_(1)K×1作为迭代计算结果矩阵f′_(1)K×1输出；

步骤C106，将步骤C105输出的矩阵f′_(1)K×1转换成像素矩阵

步骤C107，将像素矩阵转换得到的图片作为俯视图输出。

2.如权利要求1所述的μ子成像方法，其特征在于，所述步骤C106中，f′_(1)K×1和中元素的关系为：f′_(1)K×1中第1列的第行行的个数据依次对应为中第n行的数据。