[发明专利]试验装置以及试验方法有效

专利信息
申请号: 202110022224.2 申请日: 2021-01-08
公开(公告)号: CN113300786B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 丸尾友彦;马场宽之;薛雅文 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15;H04B17/29;H04B17/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 金兰
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 试验装置 以及 试验 方法
【权利要求书】:

1.一种试验装置,其是对具有被试验天线(110)的被试验对象(100)的发送特性或者接收特性进行测量的试验装置(1),具备:

电波暗箱(50),具有不受周围的电波环境影响的内部空间(51);

多个试验用天线(6),被收容在所述内部空间中,在与所述被试验天线之间发送或者接收无线信号;

姿势可变机构(56),使配置在所述内部空间中的静区内的所述被试验对象的姿势变化;

测量装置(2),使用所述试验用天线,对通过所述姿势可变机构使姿势变化了的所述被试验对象进行所述被试验对象的发送特性或者接收特性的测量;以及

反射器(7),反射所述无线信号,

多个所述试验用天线包括:反射型试验用天线(6a),经由所述反射器(7)在与所述被试验天线之间发送或者接收所述无线信号;以及多个直接型试验用天线(6b、6c、6d),在与所述被试验天线之间直接发送或者接收所述无线信号,

多个所述直接型试验用天线被配置在通过所述被试验对象的配置位置的同一平面上,且在所述被试验对象的所述配置位置,以来自所述反射型试验用天线的电波到达方向为基准,形成相互不同的规定的到达角度,多个所述直接型试验用天线中的至少一个在所述被试验对象的所述配置位置,以来自所述直接型试验用天线的其他任一个试验用天线的电波到达方向为基准,形成与所述规定的到达角度不同的追加的到达角度,

多个所述直接型试验用天线被配置在相对于水平面倾斜的平面上,

所述电波暗箱具有大致长方体或者大致立方体的形状,倾斜的所述平面同所述电波暗箱的一侧板与顶板的边界、或同所述电波暗箱的一侧板与底板的边界交叉。

2.根据权利要求1所述的试验装置,其中,

所述测量装置包括:信号处理部(40),对通过多个所述试验用天线作为无线信号被发送的信号的频率或者通过多个所述试验用天线接收到的无线信号的频率进行转换;以及切换部(141),将所述信号处理部与多个所述直接型试验用天线之间的信号路径切换为连接多个所述直接型试验用天线中的一个试验用天线和所述信号处理部的信号路径。

3.根据权利要求2所述的试验装置,其中,

所述信号处理部具备:

第一频率转换部(144),对通过所述反射型试验用天线作为无线信号被发送的信号的频率、或者通过所述反射型试验用天线接收到的无线信号的频率进行转换;以及

第二频率转换部(145),对通过由所述切换部切换的直接型的所述一个试验用天线作为无线信号被发送的信号的频率、或者通过直接型的所述一个试验用天线接收到的无线信号的频率进行转换。

4.根据权利要求3所述的试验装置,其中,

所述第一频率转换部具备:第一发送用变频器(146),对从所述反射型试验用天线作为无线信号被发送的信号进行上变频;以及第一接收用变频器(147),对通过所述反射型试验用天线接收到的无线信号进行下变频,

所述第二频率转换部具备:第二发送用变频器(148),对从多个所述直接型试验用天线作为无线信号被发送的信号进行上变频;第二接收用变频器(149),对通过多个所述直接型试验用天线接收到的无线信号进行下变频,

所述第一发送用变频器具备:第一上变频器(150),对从所述反射型试验用天线作为水平极化波的无线信号被发送的信号进行上变频;以及第二上变频器(151),对从所述反射型试验用天线作为垂直极化波的无线信号被发送的信号进行上变频,

所述第一接收用变频器具备:第一下变频器(154),对从所述反射型试验用天线接收到的水平极化波的无线信号进行下变频;以及第二下变频器(155),对从所述反射型试验用天线接收到的垂直极化波的无线信号进行下变频,

所述第二发送用变频器具备:第三上变频器(152),对从多个所述直接型试验用天线作为水平极化波的无线信号被发送的信号进行上变频;以及第四上变频器(153),对从多个所述直接型试验用天线作为垂直极化波的无线信号被发送的信号进行上变频,

所述第二接收用变频器具备:第三下变频器(156),对从多个所述直接型试验用天线接收到的水平极化波的无线信号进行下变频;以及第四下变频器(157),对从多个所述直接型试验用天线接收到的垂直极化波的无线信号进行下变频。

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