[发明专利]显示面板、触控测试方法及电子设备

说明书

本申请公开了一种显示面板、触控测试方法及电子设备，显示面板包括基板、触控测试端子、复用电路、触控单元以及触控显示芯片；该显示面板在绑定触控显示芯片之前，通过复用电路减少触控单元连接至触控测试端子的走线数量，以顺利进行触控测试；同时减少了触控测试端子的使用数量，可以节省边框的占用空间。

技术领域

本申请涉及触控显示技术领域，具体涉及一种显示面板、触控测试方法及电子设备。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示器具有主动发光、可视角度大，色域宽、亮度高、响应速度快、低功耗以及结构上可弯曲等优点，其越来越受到市场的欢迎，成为显示技术的主流。

目前，屏上直接触控(Direct On-Cell Touch，DOT)大多采用的是互容式的触摸屏设计方案，其触控芯片(TIC，Touch IC)与源驱动芯片(Drive IC)是彼此独立的两颗IC(Integrated Circuit，集成电路)，通常DIC位于AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode，有源矩阵有机发光二极体)型Panel(显示面板)的柔性基板上，TIC位于MFPC(Main Flexible Printed Circuit，主柔性印刷电路板)上。

由于互容式的触摸屏的触控通道数较少，而且连接触控电极的触摸引线(TPTrace)可以从屏体的上、下、左、右边框中引出，因此，在Cell状态即未绑定(Bonding)FPC的状态时，可以直接将所有的触摸引线延伸至Panel的Bonding区，通过FPC假压的方式来测试。

与传统的TIC与DIC彼此独立的两颗IC方案相比，TDDI(TIC与DIC集成于一芯片的技术方案)相当于TIC集成到DIC的内部，直接作为一颗IC，绑定在柔性AMOLED基板上。

但是，对于S-DOT(Self-Capacitance DOT)的TDDI技术，其触控电极单元为点自电容设计方案，其包含几百甚至上千个触控电极单元，每个触控电极单元均单独通过对应的TP Trace分别一一对应连接至TDDI IC的触控输出引脚(TP Out Pin)；而且相应的TDDI IC中的TP驱动未采用含有复用电路的技术方案，即触摸屏中点自电容的感应单元(SensorUnit)的数目与TDDI IC中的TP Out Pin的数目保持一致。

基于当前采用S-DOT与TDDI技术的显示面板而言，TP Trace还需要连接至TDDI IC下方的TP Out Pin，加之TP Trace的数量众多，以及受限于空间布置，TP Trace无法全部拉出进行假压测试。因此，针对采用S-DOT与TDDI技术的显示面板，如何进行Cell状态下的触控测试成为急需解决的问题。

发明内容

本申请提供一种显示面板、触控测试方法及电子设备，解决了针对采用S-DOT与TDDI技术的显示面板在Cell状态下的触控测试问题。

第一方面，本申请提供一种显示面板，其包括基板、触控测试端子、复用电路、触控单元以及触控显示芯片；复用电路的输入端与触控测试端子对应连接；一触控单元与复用电路的一输出端对应连接；触控显示芯片的一触控输出引脚与一触控单元对应连接；其中，触控测试端子、复用电路位于基板与触控显示芯片之间；且触控显示芯片至少部分重叠触控测试端子和/或复用电路。

基于第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，触控显示芯片包括N个触控输出组；一触控输出组包括多个触控输出引脚；相邻的两个触控输出引脚之间的距离为第一距离；相邻的两个触控输出组之间的距离为第二距离；第一距离小于第二距离；复用电路包括N个复用子电路；一复用子电路与一触控输出组垂直对置；其中，N为大于或者等于2的整数。

基于第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第二种实施方式中，复用子电路包括多个复用单元；一复用单元的输入端与一触控测试端子对应连接。