[发明专利]光学器件监测与标定系统和方法

说明书

本发明公开了一种光学器件监测与标定系统和方法，其中，该光学器件监测与标定系统和方法包括：待测光学器件和监视装置；该待测光学器件连接有输入波导与输出波导；该监视装置包含第一监测波导和第二监测波导；该第一监测波导上设有输入光栅，用于输入光信号；该第二监测波导上设有输出光栅，用于输出光信号；该第一监测波导与输入波导之间设有第一聚合物，使得第一监测波导与输入波导耦合导通；该第二监测波导与输出波导之间设有第二聚合物，使得第二监测波导与输出波导耦合导通；根据该输入光栅输入的光信号与输出光栅输出的光信号对该待测光学器件进行监测和/或标定。解决了现有技术在大规模光网络中缺乏对于个别光学器件监测与标定的问题。

技术领域

本发明涉及波导技术领域，具体涉及一种光学器件监测与标定系统和方法。

背景技术

随着半导体技术的发展，集成光学已经在光通讯领域得到了广泛的应用，近些年来各种新兴技术的产生，例如第五代移动通信技术(5th-Generation，简称5G)、应用于光学领域的现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，简称FPGA)、量子通讯、光子人工智能(Artificial Intelligence，简称AI)、激光雷达等，促使集成光芯片朝着大规模、高集成度发展，但是在大规模集成光芯片中可包含成千上万的光学器件，所有光学器件都在光网络中，导致不能对单个器件实现直接的标定与监测，单个关键器件的监测与标定就成为了极大的挑战。

针对现有技术在大规模光网络中缺乏对于光学器件监测与标定的问题，还未提出有效的解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种光学器件监测与标定系统和方法，以解决现有技术在大规模光网络中缺乏对于光学器件监测与标定的问题。

为此，本发明实施例提供了如下技术方案：

本发明第一方面，提供了一种光学器件监测与标定系统，包括：待测光学器件和监视装置；

所述待测光学器件连接有输入波导与输出波导；

所述监视装置包含第一监测波导和第二监测波导；所述第一监测波导上设有输入光栅，用于输入光信号；所述第二监测波导上设有输出光栅，用于输出光信号；

所述第一监测波导与所述输入波导之间设有第一聚合物，使得第一监测波导与所述输入波导耦合导通；所述第二监测波导与所述输出波导之间设有第二聚合物，使得第二监测波导与所述输出波导耦合导通；

根据所述输入光栅输入的光信号与所述输出光栅输出的光信号对所述待测光学器件进行监测和/或标定。

可选地，所述光学器件监测与标定系统还包括：

所述第一监测波导与所述输入波导之间的包层具有第一深刻槽，并且所述第二监测波导与所述输出波导之间的包层具有第二深刻槽；所述第一深刻槽与所述第二深刻槽用于放置所述第一聚合物和所述第二聚合物。

可选地，所述光学器件监测与标定系统还包括：

所述第一聚合物与所述第二聚合物可擦除。

可选地，所述光学器件监测与标定系统还包括：

所述第一监测波导、所述第二监测波导、所述输入波导与所述输出波导的芯层是由高折射率材料构成，并且所述第一监测波导、所述第二监测波导、所述输入波导与所述输出波导的包层是由低折射率的材料构成。

可选地，所述光学器件监测与标定系统还包括：

所述第一聚合物与所述第二聚合物的折射率均大于空气的折射率。

可选地，所述光学器件监测与标定系统还包括：