[发明专利]一种导线拉伸性能及电导率测试仪器在审
申请号: | 202110024877.4 | 申请日: | 2021-01-08 |
公开(公告)号: | CN112881169A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 苗青;兰天涵;刘威;丁哲文;侯俊杰;马天国;张楚婷 | 申请(专利权)人: | 上海电机学院 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/10;G01R27/02;G01N27/04;G01B11/02;G01B11/08 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人: | 王一琦 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 导线 拉伸 性能 电导率 测试 仪器 | ||
本发明公开了一种导线拉伸性能及电导率测试仪器,包括电学性能检测部件和力学性能检测部件,以及检测数据处理模块、数据存储模块、智能终端设备;电学性能检测部件包括:箱体,设有显示屏;一对导线固定夹具;激光测径仪,用于检测导线的直径;电阻值检测单元,用于检测导线的电阻值;力学性能检测部件包括:底座,与箱体固定连接为一体;一对竖直的自动伸缩缸;固定套接于两个自动伸缩缸的伸缩杆的上升降座,其安装有夹住导线上端的上夹具;固定套接于两个自动伸缩缸的缸筒的下固定座,其设有拉伸传感器,以及安装在拉伸传感器上的、检测时夹住导线下端的下夹具。可同时检测导线的电学性能和力学性能,使得检测效率得以显著提升。
技术领域
本发明涉及导体检测技术领域,具体来说,是一种导线拉伸性能及电导率测试仪器。
背景技术
目前对于大多数的实验室来说,想得到一段导线的性质,往往需要测试它的多方面的性能,比如需要同时测量出它的电导率、强度、耐腐蚀性等等。但目前市场上的测量设备与现实需求有些许差距。如市面上广泛使用的,导线拉力测试仪,此装置专用于检测导线的拉脱力,不仅具有设备小巧、控制准确、测量精度高、试件装夹方便、操作简单等优点,还可以清晰的测试出导线拉伸强度、变形率、拉断力、抗撕裂性能。虽然此装备测量出的数据很清晰明了,却拥有一个致命的缺点:检测项目比较单一。
上述设备只能测量出导线的强度,市面上几乎所有的设备,都没有能够对一段导线进行多属性测量的功能。这样就使得在实验人员在实验室想计算出某一段导线性能时,需要同时配合使用测试导线其他性能的仪器。如需要同时配合电导率测试仪,耐腐蚀测量仪器等,而这样不仅使实验需要的成本和操作要求大大提高,而且步骤还过于繁琐,统计和计算难度过大稍有不慎就会产生误差,影响实验数据的准确性和实验的便利性。
而且,在我们得到这段导线的全部测量数据后,如果我们想得到这段导线的整体性能,还需要我们将这段导线的所有单一性能做统计,计算与分析并在最后做出图像与报表,这简单的几步却需要专业人员花大量的时间与精力来完成,导致人工成本的浪费。
发明内容
本发明的目的是提供一种导线拉伸性能及电导率测试仪器,可同时检测导线的电学性能和力学性能,使得检测效率得以显著提升。
本发明的目的是这样实现的:一种导线拉伸性能及电导率测试仪器,包括组合为一个整体的电学性能检测部件和力学性能检测部件,以及检测数据处理模块、数据存储模块、智能终端设备,所述检测数据处理模块的输出端与智能终端设备连接并利用智能终端设备显示检测数据,所述数据存储模块与检测数据处理模块连接并存储检测数据处理模块的数据;
所述电学性能检测部件包括:
箱体,设有与检测数据处理模块的输出端连接的、用于显示检测数据的显示屏;
一对固定设置在箱体上表面的导线固定夹具,两个导线固定夹具分别夹持导线的两端以使导线处于水平伸直的状态;
激光测径仪,用于检测导线的直径,所述激光测径仪安装在箱体上表面;
电阻值检测单元,用于检测导线的电阻值,所述电阻值检测单元结合设置于箱体;
其中,所述激光测径仪、电阻值检测单元均与检测数据处理模块的输入端连接,并向检测数据处理模块输送导线的直径、电阻信息,经所述检测数据处理模块处理后将导线的电学参数输出到显示屏上;
所述力学性能检测部件包括:
底座,与箱体固定连接为一体;
一对竖直的自动伸缩缸,所述自动伸缩缸的伸缩杆朝上设置;
固定套接于两个自动伸缩缸的伸缩杆的上升降座,其安装有检测时夹住导线上端的上夹具;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海电机学院,未经上海电机学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110024877.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:平板探测器功耗检测装置
- 下一篇:一种半导体硅片用电阻检测分类装置