[发明专利]基于真空全息光镊的空间分辨压强测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 202110025166.9 申请日: 2021-01-08
公开(公告)号: CN112880912B 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 胡慧珠;陈铭;陈杏藩;高晓文;李楠;刘承 申请(专利权)人: 浙江大学;之江实验室
主分类号: G01L21/00 分类号: G01L21/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 真空 全息 空间 分辨 压强 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种基于真空全息光镊的空间分辨压强测量系统,其特征在于:

所述的真空全息光镊空间分辨压强测量系统包括真空腔VC、微纳粒子MS、光镊装置及反馈冷却装置、驱动电场装置E、空间光调制器SLM、偏振控制及检测装置和残余气体分析仪RGA;

驱动电场装置E包含六个电极,偏振控制及检测装置包含偏振控制装置和偏振检测装置,偏振控制装置采用第一偏振分光镜PBS1,偏振检测装置包含第二偏振分光镜PBS2和第一光电二极管PD1,光镊装置包含激光源LS第一凸透镜L1和第二凸透镜L2,反馈冷却装置包含第一分光镜BS1、第二分光镜BS2、第一参考光源LO1、第二光电二极管PD2、第三分光镜BS3、第二参考光源LO2和四象限探测器QPD;真空腔VC内布置光镊装置、驱动电场装置E、微纳粒子MS和残余气体分析仪RGA,第二凸透镜L2和第一凸透镜L1分别对称位于微纳粒子MS的上下两侧且同光轴布置,第一凸透镜L1下方的真空腔VC外布置空间光调制器SLM、第一偏振分光镜PBS1、第一分光镜BS1、第二分光镜BS2、激光源LS、第一参考光源LO1和第二光电二极管PD2,第二凸透镜L2上方的真空腔VC外布置第二偏振分光镜PBS2,第一光电二极管PD1、第三分光镜BS3、第二参考光源LO2和四象限探测器QPD;

原始激光从激光源LS出射,经过第一分光镜BS1透射入射到第一偏振分光镜PBS1发生透射,使光束变成p偏振,再依次经空间光调制器SLM反射调制、第一凸透镜L1透射汇聚后形成捕获光,捕获光照射微纳粒子MS处形成光阱捕获区域,同时捕获光经过微纳粒子MS后再经第二凸透镜L2透射汇聚后入射到第二偏振分光镜PBS2发生反射和透射,其中反射光只包含s偏振,透射光只包含p偏振,第二偏振分光镜PBS2反射的光束入射到第一光电二极管PD1,第二偏振分光镜PBS2透射的光束入射到第三分光镜BS3发生透射,第三分光镜BS3透射的光束入射到四象限探测器QPD,第二参考光源LO2发出光束经第三分光镜BS3反射后入射到四象限探测器QPD;捕获光照射微纳粒子MS的反射光束按原路逆反到第一分光镜BS1发生反射,再入射到第二偏振分光镜PBS2发生透射,第二偏振分光镜PBS2透射的光束入射到第二光电二极管PD2,第一参考光源LO1发出光束经第二偏振分光镜PBS2反射后入射到第二光电二极管PD2;六个电极分别布置在光阱捕获区域周围的立体六面侧旁。

2.根据权利要求1所述的一种基于真空全息光镊的空间分辨压强测量系统,其特征在于:透射过第二偏振分光镜PBS2的光束在第三分光镜BS3处和第二参考光源LO2射出的光进行合束,入射到四象限探测器探测进行外差干涉测量,得到微纳粒子MS在垂直于捕获光的方向上的位移;经捕获光照射微纳粒子MS后反射回到第一偏振分光镜PBS1的光束,经过第一分光镜BS1的反射后在第二分光镜BS2处与第一参考光源LO1出射的光进行合束,入射到第二光电二极管PD2探测进行外差干涉测量,得到微纳粒子MS在平行于捕获光的方向上的位移;利用测得的微纳粒子MS在垂直于捕获光的方向和平行于捕获光的方向的位移对激光源LS输出的光强I进行反馈冷却调节。

3.根据权利要求1所述的一种基于真空全息光镊的空间分辨压强测量系统,其特征在于:所述的真空腔VC的腔壁上开有用于光束透过/经过的透光光学窗口。

4.根据权利要求1所述的一种基于真空全息光镊的空间分辨压强测量系统,其特征在于:所述的光镊装置由激光源LS输出,经过空间光调制器SLM调制和第一凸透镜L1汇聚在真空腔VC内形成真空全息光镊。

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