[发明专利]一种基于数字全息术的钙钛矿薄膜形貌结构的检测方法在审

专利信息
申请号: 202110026811.9 申请日: 2021-01-09
公开(公告)号: CN112525824A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 晒旭霞;李洁;宋谢飞;钱晓凡;李昊祥 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/84
代理公司: 昆明同聚专利代理有限公司 53214 代理人: 王远同
地址: 650000 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 数字 全息 钙钛矿 薄膜 形貌 结构 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于数字全息术的钙钛矿薄膜形貌结构的检测方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

(1)激光器(1)发出的光,经第一准直系统扩束准直后由分光棱镜(5)将平行光分为两束光,一束为物光,一束为参考光,物光经反射镜Ⅰ(6)反射到钙钛矿薄膜(11)上,钙钛矿薄膜涂布在玻璃基体上,放置在可加热式载体(10)中,物光经过钙钛矿薄膜反射或透射后,经第三准直系统准直后,穿过显微物镜Ⅱ(14)进入到合束棱镜(15)上;

(2)参考光经反射镜Ⅱ(18)反射后,经第二准直系统准直后,穿过与显微物镜Ⅱ(14)放大倍数完全相同的显微物镜Ⅰ(9)进入到合束棱镜(15)上;

(3)计算机(17)与CCD相机(16)的输出端口连接,通过调节合束棱镜(15),使物光波与参考光波以一定的夹角到达 CCD 相机(16)靶面进行离轴干涉并形成全息图;由计算机保存并处理全息图;通过改变物光透过被测物的位置,进行多次测量;将采集到的相位信息显示在电脑上;通过对室温与加热状态下所采集到的相位信息进行处理分析,得到钙钛矿薄膜的形貌结构情况与稳定性。

2.根据权利要求1所述基于数字全息术的钙钛矿薄膜形貌结构的检测方法,其特征在于:包含两种类型的光路,透射型数字全息光路与反射型数字全息光路。

3.根据权利要求1所述基于数字全息术的钙钛矿薄膜形貌结构的检测方法,其特征在于:第一准直系统包括物镜(2)、小孔Ⅰ(3)、准直透镜Ⅰ(4);第二准直系统包括小孔Ⅱ(7)、准直透镜Ⅱ(8);第三准直系统包括小孔Ⅲ(12)、准直透镜Ⅲ(13)。

4.根据权利要求1所述基于数字全息术的钙钛矿薄膜形貌结构的检测方法,其特征在于:可加热式载体(10)为框状结构,包围在钙钛矿薄膜(11)周围,可对其进行定温加热。

5.根据权利要求4所述基于数字全息术的钙钛矿薄膜形貌结构的检测方法,其特征在于:可加热式载体(10)分别与温控装置(21)和液晶显示屏(22)连接。

6.根据权利要求1所述基于数字全息术的钙钛矿薄膜形貌结构的检测方法,其特征在于:步骤(3)中相位信息进行处理分析的具体过程为:在CCD相机记录到物体变化全息图后,利用二次曝光的方法,将相位相减,对物体变化前后的全息图分别进行数值重建,得到相应物光波的复振幅分布;利用MATLAB 程序分别对全息图的预处理、全息像的数值重建、重建物光波强度和相位分布的提取进行处理;根据处理结果得到被测物体的形貌信息及改变温度后的变化情况。

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