[发明专利]分析物测量仪、测试条弹出器以及使用测试条弹出器的方法

权利要求书

1.一种分析物测量仪，包括：

壳体，所述壳体包括前侧、后侧、第一侧、第二侧、末端以及所述末端处的测试条端口，所述测试条端口被配置成在其中容纳测试条；以及

测试条弹出器，所述测试条弹出器被配置成将所述测试条从所述测试条端口弹出，所述测试条弹出器还包括：

滑动构件，所述滑动构件可相对于所述壳体滑动；

接合构件，所述接合构件耦接至所述滑动构件并被配置成由用户接触，所述接合构件位于所述壳体的所述后侧上；以及

推动构件，所述推动构件耦接至所述滑动构件并被定位成可与所述测试条的所述末端接合。

2.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述接合构件包括跨所述接合构件的宽度延伸的肋。

3.如权利要求2所述的分析物测量仪，其中所述肋从所述第一侧延伸到所述第二侧。

4.如权利要求1所述的分析物测量仪，包括在所述前侧上的显示屏。

5.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述接合构件与所述第一侧和所述第二侧并排延伸。

6.如权利要求1所述的分析物测量仪，包括与所述推动构件接触以将所述接合构件偏置到缩回起始位置的一个或多个弹簧。

7.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述接合构件包括可与用户的指部接触的接触半径。

8.如权利要求7所述的分析物测量仪，其中所述接触半径跨所述接合构件的宽度延伸。

9.如权利要求8所述的分析物测量仪，其中所述接触半径跨所述接合构件的宽度并与所述接合构件的所述第一侧和第二侧中的一者或两者并排延伸。

10.如权利要求8所述的分析物测量仪，其中所述接触半径包括介于3mm与8mm之间的半径。

11.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述接合构件包括一个或多个肋。

12.如权利要求11所述的分析物测量仪，其中所述一个或多个肋跨所述接合构件的宽度延伸。

13.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述接合构件跨越所述壳体。

14.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述接合构件被容纳在所述壳体的凹陷区域中。

15.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述前侧包括显示屏。

16.如权利要求1所述的分析物测量仪，其中所述推动构件位于形成在印刷电路板中的狭槽中。

17.如权利要求16所述的分析物测量仪，其中所述印刷电路板的与所述狭槽相对的连接端耦接至容纳在所述壳体的第二部分中的电源。

18.如权利要求1所述的分析物测量仪，包括设置在所述分析物测量仪的所述第一侧和第二侧上的触觉牵引特征，以增强对所述分析物测量仪的抓握。

19.如权利要求18所述的分析物测量仪，其中所述触觉牵引特征包括以图案提供的重复的凹进区域。

20.如权利要求1所述的分析物测量仪，包括扫描仪，所述扫描仪位于所述壳体的与具有所述测试条端口的所述端相对的第二端处。

21.如权利要求1所述的分析物测量仪，包括一个或多个扫描仪按钮，所述扫描仪按钮在被按下时发起所述分析物测量仪的扫描仪功能。