[发明专利]孔径测量装置在审
申请号: | 202110031524.7 | 申请日: | 2021-01-11 |
公开(公告)号: | CN112880525A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 李青;李赫然;廖民安;王耀君;范少荣;胡恒广 | 申请(专利权)人: | 河北光兴半导体技术有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭科技集团有限公司 |
主分类号: | G01B5/12 | 分类号: | G01B5/12 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 陈庆超 |
地址: | 050035 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 孔径 测量 装置 | ||
本公开涉及一种孔径测量装置,用于测量待测孔的尺寸,该孔径测量装置包括移动组件、检测装置、至少两个接触件,接触件的底端设置有用于与待测孔的孔壁相抵触第一触头,移动组件用于在向下移动时驱动两个第一触头相互远离地张开,以使两个第一触头均与待测孔的孔壁相抵触,检测装置用于测量移动组件的滑动距离。通过上述孔径测量装置,在对待测孔进行测量过程中,不需要人为对待测孔的内径进行找准,具有测量速度快、测量精准度高的优点。
技术领域
本公开涉及测量技术领域,具体地,涉及一种孔径测量装置。
背景技术
对于孔的直径的测量,有直接测量、间接测量和综合测量等测量方法。孔径测量是长度计量技术的主要内容之一。目前,针对孔内径的测量,一般使用内径百分表或者内径千分尺,测量人员需要将内径千分尺放入到工件内孔中测量,这类内径测量仪器采用机械传动,通过调整测量仪器的位置实现直径找准,存在测量精度不高、测量速度较慢的问题。
发明内容
本公开的目的是提供一种孔径测量装置,该孔径测量装置测量精度高、测量速度快。
为了实现上述目的,本公开提供一种孔径测量装置,用于测量待测孔的尺寸,包括移动组件、检测装置、至少两个接触件,所述接触件的底端设置有用于与待测孔的孔壁相抵触第一触头,所述移动组件用于在向下移动时驱动两个所述第一触头相互远离地张开,以使两个所述第一触头均与所述待测孔的孔壁相抵触,所述检测装置用于测量所述移动组件的滑动距离。
可选地,所述孔径测量装置还包括支架,所述接触件构造为摆臂,所述摆臂包括第一摆臂和第二摆臂,所述第一摆臂和所述第二摆臂分别与所述支架可转动地连接,所述第一摆臂和所述第二摆臂的转轴平行设置,所述第一触头设置于所述摆臂的一端,所述摆臂的另一端设置有第二触头,所述移动组件可滑动地设置在所述支架上,并且所述移动组件向下滑动时能够通过所述第二触头推动所述第一摆臂和所述第二摆臂摆动,以使两个所述第一触头相互远离。
可选地,所述移动组件沿上下方向滑动,所述摆臂构造成所述摆臂的重心位于所述摆臂自身的所述转轴的下方,以使所述移动组件上升时所述第二触头始终抵触于所述移动组件。
可选地,所述摆臂的靠近所述第一触头的一侧设置有配重块,所述摆臂倾斜设置,所述摆臂的转轴设置在所述第一触头和所述第二触头之间,所述转轴与所述摆臂和所述配重块整体的重心间隔设置,以使所述摆臂在重力的作用下转动。
可选地,在同一所述摆臂上,所述第一触头和所述第二触头与所述摆臂的转轴的距离相等。
可选地,所述支架包括水平延伸的固定件以及竖直延伸的导向件,并且所述固定件与所述导向件呈倒T形设置,所述第一摆臂设置在所述导向件的一侧,所述第二摆臂设置在所述导向件的另一侧,并且两个所述摆臂通过相应的转轴可转动地连接在所述固定件上,所述第一触头和所述第二触头分别设置在相应的所述转轴的两侧,所述移动组件沿所述导向件的长度方向可滑动地设置在所述导向件上。
可选地,所述固定件的两端均设置有安装部,所述安装部与所述摆臂一一对应,所述安装部包括相对且间隔设置的第一固定板和第二固定板,所述转轴穿过所述摆臂并且所述转轴的两端与所述第一固定板和所述第二固定板连接,所述摆臂设置有所述第二触头的一段穿设于所述第一固定板和所述第二固定板之间。可选地,所述移动组件包括滑动块和杠杆,所述导向件上开设有沿长度方向延伸的滑槽,所述滑动块可滑动地设置于所述滑槽内,两个所述第二触头分别与所述杠杆的两端相抵触,所述杠杆与所述滑动块连接,以在所述摆臂转动时通过所述杠杆带动所述滑动块滑动,所述检测装置用于检测所述滑动块的滑动距离。
可选地,所述杠杆与所述滑动块通过铰接轴铰接,且所述杠杆的两端分别设置在所述铰接轴的两侧,所述第一摆臂和所述第二摆臂设分别设置在所述铰接轴的两侧,并且所述第一摆臂的所述第二触头与所述铰接轴的距离等于所述第二摆臂的第二触头与所述铰接轴的距离。
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