[发明专利]液面检测装置及系统

说明书

本申请涉及液面检测装置及系统，具体而言，涉及液面检测领域。本申请提供的液面检测装置包括：容器、透光部、第一金属膜层、金属漂浮层和第二金属膜层；当需要对待测液面进行检测的时候，将本申请的装置放置在待测液面上，光照射在第二金属膜层、金属漂浮层和第一金属膜层上激发表面等离激元效应，当液体高度变化时，由于金属漂浮层的多个金属单元的漂浮高度改变，第一金属膜层和第二金属膜层之间的耦合距离发生改变，进而改变第一金属膜层和第二金属膜层之间的耦合强度，使得通过孔洞位置的透光部的输出光强度发生改变，通过对输出光的强度检测，并根据该输出光的强度与该待测液面高度的对应关系，得到待测液面的高度。

技术领域

本申请涉及液面检测领域，具体而言，涉及一种液面检测装置及系统。

背景技术

现有技术中的液面测量，一般是通过电学或者光学的测量装置，光学测量方法一般是通过，测量反射光线完成对该液面的测量，该电学测量装置一般是通过电阻，完成对该待测液面的测量。

但是，无论是电学测量还是光学测量均需要考虑装置的防水性，密封性，使得测量液面高度的装置较为复杂，并且若测量的是易燃易爆物质，电学和光学均容易发生危险。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种液面检测装置及系统，以解决现有技术中无论是电学测量还是光学测量均需要考虑装置的防水性，密封性，使得测量液面高度的装置较为复杂，并且若测量的是易燃易爆物质，电学和光学均容易发生危险的问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请提供一种液面检测装置，装置包括：容器、透光部、第一金属膜层、金属漂浮层和第二金属膜层；容器为一面开口的结构，且与开口一面相对的面上设置有孔洞，透光部设置在孔洞中，第一金属膜层、金属漂浮层和第二金属膜层均设置在容器内部，第一金属膜层位置在容器靠近孔洞的位置，金属漂浮层包括多个金属单元，多个金属单元周期设置在第一金属膜层远离孔洞的一侧，且多个金属单元在待测液体的作用下改变漂浮高度，第二金属膜层设置在容器开口位置，容器靠近第一金属膜层的侧壁上设置有第一进液孔。

可选地，该第一金属膜层和第二金属膜层的结构完全相同。

可选地，该第一金属膜层和第二金属膜层的厚度均为10nm-60nm。

可选地，该第一金属膜层和第二金属膜层的材料均为贵金属。

可选地，该金属漂浮层的多个金属单元的形状为：长方体、三棱柱、三棱锥和球形中任意一种。

可选地，该装置还包括石墨烯层、第一电极和第二电极，石墨烯层设置在第二金属膜层远离第一金属膜层的一侧，第一电极和第二电极分别设置在石墨烯层远离第二金属膜层一侧的两端。

可选地，该容器还包括第二进液孔，第二进液孔设置在与第一进液孔相对的侧壁上。

第二方面，本申请提供一种液面检测系统，系统包括：光源、光信号探测器和第一方面任意一项的液面检测装置，光源设置在液面检测装置的第二金属膜层的一端，用于产生光信号，光信号探测器设置在液面检测装置的孔洞的一端，用于接收光源产生的光信号依次通过第二金属膜层、金属漂浮层、第一金属膜层和透光部的输出光信号。

本发明的有益效果是：