[发明专利]一种指数型测试性分配与可行性分析方法

说明书

本发明提供了一种指数型测试性分配与可行性分析方法，包括如下步骤：包括S1、构建测试性分配问题的数学模型；S2、根据测试性指标随故障率变化的特点，构造指数型测试性分配函数；S3、根据所述S2中构造的指数型测试性分配函数，设计测试性分配算法；S4、通过新的成本函数，根据所述S3中所设计的分配算法对所述S2中构造的指数型测试性分配函数进行可行性分析与验证。本发明所述的指数型测试性分配与可行性分析方法，解决了主流测试性分配方法所存在的分配值体现不出指标随故障率变化的特点以及缺乏对分配方法进行可行性分析的问题。

技术领域

本发明属于测试性设计领域，尤其是涉及一种指数型测试性分配与可行性分析方法。

背景技术

测试性是产品能及时、准确地确定其状态(可工作、不可工作或性能下降程度)，并隔离其内部故障的一种设计特性，与可靠性、维修性、保障性和安全性等特性相似，测试性是装备的通用质量特性之一。测试性指标分配(简称测试性分配)是开展装备测试性设计工作的重要工作项目(GJB2547A-2012《装备测试性工作通用要求》工作项目302)，可根据诊断方法、可靠性、任务关键性和技术风险等要求，将产品的测试性定量要求逐层分配到规定的产品层次，以明确各层次产品的测试性定量要求。

目前，优化分配法、层次分析法及其改进方法考虑了测试性分配时的多种影响因素，相比经典方法中的故障率分配法更加科学合理。但在工程实践中，尤其是在装备研发的早期阶段，往往只有组成单元的故障率数据，没有或者很难获得其他支撑指标分配的数据，即使通过专家评分等方法获得影响因子等数据，也存在一定的主观性，造成指标分配值过高或过低，往往还要对分配值进行修正，这使得以上方法存在一定的限制。此外，主流测试性分配方法存在所得分配值体现不出指标随故障率变化的特点以及缺乏对分配方法进行可行性分析的问题，在这样的背景下，需要研发一种指数型测试性分配与可行性分析方法，以提高测试性设计的可靠性与客观性，也为后续故障诊断及系统的测试性设计、维护提供理论支撑。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在提出一种指数型测试性分配与可行性分析方法，以解决主流测试性分配方法存在的分配值体现不出指标随故障率变化的特点以及缺乏对分配方法进行可行性分析的问题。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种指数型测试性分配与可行性分析方法，包括如下步骤：

S1、构建测试性分配问题的数学模型；

S2、根据测试性指标随故障率变化的特点，构造指数型测试性分配函数，所构造的指数型测试性分配函数为：

f(λ)＝1-α^λ(0＜α＜1) (12)

其中，f(λ)为测试性指标；λ为待分配单元发生故障的概率；α为分配系数；

S3、根据所述S2中构造的指数型测试性分配函数，设计测试性分配算法；

S4、通过新的成本函数，根据所述S3中所设计的分配算法对所述S2中构造的指数型测试性分配函数进行可行性分析与验证。

进一步的，所述S1中构建的数学模型包括以下函数：

γ_i＝f₁(λ_i) (i＝1,2,...,N) (1)

γ_s＝f₂(γ₁，γ₂，···,γ_N) (i＝1,2,...,N) (2)

0≤γ_i≤1 (i＝1,2,...,N) (3)

γ_sr≤γ_s≤1 (4)