[发明专利]一种芯片信号测试电路及胶囊式内窥镜

权利要求书

1.一种芯片信号测试电路，其特征在于，包括：

设于胶囊式内窥镜内的测试芯片上，输入端与所述测试芯片上的多个测试信号线一一连接、且具有单一输出端的信号选通电路；

设于所述胶囊式内窥镜内、与所述信号选通电路的控制端连接的控制电路，用于在接收到一目标测试信号的测试指令时，控制所述信号选通电路将所述目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以对所述目标测试信号进行检测。

2.如权利要求1所述的芯片信号测试电路，其特征在于，所述测试芯片包括带有微处理器和第一寄存器的射频收发器芯片；

相应的，所述控制电路包括：

与所述信号选通电路连接的第一寄存器；

与所述第一寄存器连接的微处理器，用于在接收到所述射频收发器芯片的一目标测试信号的测试指令时，通过配置所述第一寄存器来控制所述信号选通电路将所述目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以对所述目标测试信号进行检测。

3.如权利要求2所述的芯片信号测试电路，其特征在于，所述测试芯片还包括带有第二寄存器的图像传感器芯片；其中，所述第二寄存器通过芯片接口与所述微处理器连接；

相应的，所述信号选通电路包括：

设于所述射频收发器芯片上，输入端与所述射频收发器芯片上的多个测试信号线一一连接、控制端与所述第一寄存器连接、且具有单一输出端的第一信号选通子电路；

设于所述图像传感器芯片上，输入端与所述图像传感器芯片上的多个测试信号线一一连接、控制端与所述第二寄存器连接、且具有单一输出端的第二信号选通子电路；

则所述微处理器具体用于在接收到目标测试芯片的一目标测试信号的测试指令时，通过配置所述目标测试芯片上的寄存器来控制所述目标测试芯片上的信号选通子电路将所述目标测试信号对应的测试信号线连通至其单一输出端，以对所述目标测试信号进行检测；其中，所述目标测试芯片为所述射频收发器芯片或所述图像传感器芯片。

4.如权利要求3所述的芯片信号测试电路，其特征在于，所述目标测试芯片上信号选通子电路的数量＝在所述胶囊式内窥镜联调测试中，所述目标测试芯片需要同时检测信号的最大数量；

相应的，所述目标测试芯片上的寄存器包括：

与所述目标测试芯片上的信号选通子电路一一连接、由所述微处理器配置的子寄存器；其中，为同一信号选通子电路配置的测试信号不同时检测。

5.如权利要求1-4任一项所述的芯片信号测试电路，其特征在于，所述信号选通电路引出的测试引脚与所在测试芯片上的原功能引脚相互复用。

6.一种胶囊式内窥镜，其特征在于，包括图像传感器芯片和射频收发器芯片，还包括如权利要求1-5任一项所述的芯片信号测试电路。