[发明专利]超声诊断设备、超声探头自检方法和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110042738.4 申请日: 2021-01-13
公开(公告)号: CN114052783A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 刘志奇 申请(专利权)人: 武汉联影医疗科技有限公司
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 赵文静
地址: 430206 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 超声 诊断 设备 探头 自检 方法 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种超声诊断设备,其特征在于,所述超声诊断设备包括显示器、超声探头、处理器和超声探头自检装置;所述处理器与所述超声探头、所述显示器通信连接;

所述超声探头自检装置,用于固定所述超声探头;

所述处理器,用于在所述超声探头放置于所述超声探头自检装置中时,控制所述超声探头发射信号,并接收被所述超声探头自检装置反射的回波信号,根据所述回波信号确定所述超声探头的性能检测结果。

2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,所述超声探头自检装置包括:框架和反射板;所述至少一个反射板设置于所述框架上;所述反射板上设置有至少一个容纳腔;所述容纳腔内设置有均质介质;

在超声探头与所述容纳腔的均质介质的表面抵接时,所述超声探头的发射信号穿过所述均质介质被反射板反射,并将反射信号传输至所述处理器,以使所述处理器对所述超声探头进行性能检测。

3.根据权利要求2所述的设备,其特征在于,所述超声探头自检装置的反射板上的容纳腔的表面形状与所述超声探头的阵元阵列面的形状相适配;所述反射板上的表面与所述超声探头的距离,是根据所述超声探头的阵元阵列所在切面方向的几何焦距确定的。

4.根据权利要求3所述的设备,其特征在于,所述超声探头自检装置的框架上固定设置有定位组件;

所述定位组件,用于将所述超声探头固定在所述框架上,并与所述均质介质的上表面抵接。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的设备,所述超声探头自检装置还包括旋转装置,所述反射板设置于所述旋转装置上;

所述超声探头自检装置通过所述旋转装置设置于所述显示器与所述处理器之间。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的设备,其特征在于,所述超声探头自检装置设置于所述超声诊断设备的外壁上。

7.一种超声探头自检方法,其特征在于,应用于上述权利要求1-6中任一项所述的超声诊断设备,所述方法包括:

在超声探头放置于超声探头自检装置中的情况下,控制超声探头的各阵元发射信号,并接收各所述阵元返回的回波信号;

根据各所述阵元的回波信号,确定所述超声探头的性能检测结果。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据各所述阵元的回波信号,确定所述超声探头的性能检测结果,包括:

根据各所述阵元的回波信号和预设的检测条件,确定所述超声探头的性能检测结果。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述预设的检测条件包括预设的信号阈值,所述根据各所述阵元的回波信号和预设的检测条件,确定所述超声探头的性能检测结果,包括:

计算各所述阵元的回波信号与所述信号阈值的第一差值;所述信号阈值根据所述超声探头的类型确定;

若存在当前阵元的第一差值处于预设的第一阈值范围之外,则输出所述当前阵元损坏的提示信息。

10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述预设的检测条件包括所有阵元的回波信号均值,所述根据各所述阵元的回波信号和预设的检测条件,确定所述超声探头的性能检测结果,包括:

根据各所述阵元的回波信号,计算所述回波信号均值;

计算各所述阵元的回波信号与所述回波信号均值的第二差值;

若存在当前阵元的第二差值处于预设的第二阈值范围之外,则输出所述当前阵元损坏的提示信息。

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