[发明专利]一种半导体击穿电压检测装置

权利要求书

1.一种半导体击穿电压检测装置，包括机体(1)，其特征在于：所述机体(1)的上方固定安装有气囊(2)，气囊(2)的上方活动安装有移动板(3)，移动板(3)的两侧分别转动安装有一个第一转杆(4)，第一转杆(4)远离移动板(3)的一端固定安装有第一伸缩杆(5)，第一伸缩杆(5)的下端固定连接有导电块(6)，导电块(6)的下方转动安装有工作台(7)，工作台(7)的内部两侧分别活动安装有一个活塞杆(8)，活塞杆(8)的一端活动安装有磁杆(9)，磁杆(9)远离活塞杆(8)的一侧转动安装有第一电磁铁(10)，第一电磁铁(10)远离磁杆(9)的一侧活动安装有限位杆(11)，限位杆(11)的上方转动安装有第二转杆(12)，第二转杆(12)远离限位杆(11)的一端上方活动安装有移动杆(13)，移动杆(13)远离导电块(6)的一侧活动安装有推板(14)，推板(14)与移动杆(13)固定连接，推板(14)的下方固定安装有第二电磁铁(15)，移动杆(13)的上端转动安装有控制杆(16)，控制杆(16)的上方固定安装有控制开关(17)，工作台(7)的左侧下方固定安装有良好管(18)，工作台(7)的右侧下方固定安装有废料管(19)，工作台(7)的下方固定安装有支撑架(20)，支撑架(20)与工作台(7)转动连接，支撑架(20)的两侧分别固定连接有一个第二伸缩杆(21)，第二伸缩杆(21)的外侧活动安装有稳定杆(22)，稳定杆(22)与工作台(7)固定连接，稳定杆(22)的下方安装有滑动杆(24)，滑动杆(24)远离稳定杆(22)的一侧滑动安装有稳定架(23)，稳定架(23)的内侧固定安装有第三电磁铁(25)，第三电磁铁(25)的内侧转动安装有摆动杆(26)，摆动杆(26)的外侧固定安装有触点(27)，摆动杆(26)的两侧固定安装有拉伸弹簧(28)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体击穿电压检测装置，其特征在于：所述活塞杆(8)与磁杆(9)转动连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体击穿电压检测装置，其特征在于：所述第一电磁铁(10)的两侧开设有与限位杆(11)对应的限位槽。

4.根据权利要求1所述的一种半导体击穿电压检测装置，其特征在于：所述第二电磁铁(15)通电产生的磁性与相对面的推板(14)磁性相同。

5.根据权利要求1所述的一种半导体击穿电压检测装置，其特征在于：所述良好管(18)和废料管(19)与磁杆(9)不处于同一平面。

6.根据权利要求1所述的一种半导体击穿电压检测装置，其特征在于：所述稳定杆(22)的下端斜面与滑动杆(24)外端的斜面倾斜角度相同。

7.根据权利要求1所述的一种半导体击穿电压检测装置，其特征在于：所述触点(27)与第三电磁铁(25)电性连接。