[发明专利]一种新型温度传感器高低温测试装置

说明书

本发明公开了一种新型温度传感器高低温测试装置，包括：箱体，用于改变箱体内部的测试温度并放置测试模块；测试模块，可拆卸设置于箱体内侧，用于进行手动测试或自动化测试；显示模块，位于箱体上，用于显示信息和接收输入数据；分拣模块，用于放置和转移待测元器件；控制模块，位于箱体内部，与箱体、测试模块、显示模块、分拣模块电性连接，用于控制测试装置稳定运行。其中，测试模块包括：手动测试模块和自动测试模块。本发明提供的新型温度传感器高低温测试装置结构简单，能够实现手动测试和自动测试两种测试模式，应用面广，并且能够实现批量元器件测试，极大提高了测试效率，节省测试时间。

技术领域

本发明属于测试设备技术领域，尤其涉及一种新型温度传感器高低温测试装置。

背景技术

随着微电子技术的快速发展，集成电路的功能也愈加丰富，因而对于集成电路的要求也越来越高。而作为传感器一员的温度传感器也因此被广泛关注。温度传感器是能够检测温度的传感器，对其进行检测时要对其温度精度进行检测，这时就用到了高低温测试装置。众所周知，高低温测试装置是集成电路测试中不可或缺的项目之一，同时，高低温环境对温度传感器的功能及性能影响很大。

传统的高低温测试装置，在测试时都需要不停的开启温箱门，这样大大降低了测试速度，妨碍了大批量测试进程。而行业中部分企业采用热流罩测试设备，但价格昂贵，大幅增加了测试成本，并且此方法单次测试芯片数量有限，实用性较低。

发明内容

鉴于上述技术问题，本发明提供了一种新型温度传感器高低温测试装置，以填补温度传感器产品批量测试的需求，提供了高效、快速高低温测试装置的研发方向，解决了高低温测试装置成本高且测试低效的问题。

在本发明实施方式的一方面中，提供了一种新型温度传感器高低温测试装置，包括：

箱体，用于改变上述箱体内部的测试温度并放置测试模块；

上述测试模块，可拆卸设置于上述箱体内侧，用于进行手动测试或自动化测试；

显示模块，位于上述箱体上，用于显示信息和接收输入数据；

分拣模块，用于放置和转移待测元器件；

控制模块，位于上述箱体内部，与上述箱体、上述测试模块、上述显示模块、上述分拣模块电性连接，用于控制上述测试装置稳定运行。

在本发明的一个实施例中，上述箱体一侧开设有第一通孔，上述在第一通孔对侧开设有第二通孔和矩形槽。

在本发明的另一个实施例中，上述测试模块包括：

手动测试模块，位于上述箱体上的第二通孔一侧，用于进行手动测试；

自动测试模块，位于上述箱体上的第一通孔一侧，用于进行自动化测试。

在本发明的又一个实施例中，上述手动测试模块包括：

平板支架，用于支撑第一样品盒，其中，上述平板支架一端固定有手柄，上述手柄靠近上述平板支架端外侧设置有密封圈，上述平板支架通过上述密封圈卡接于上述箱体上的第二通孔上；

多个上述第一样品盒，均匀固定于上述平板支架上侧，用于放置上述待测元器件。

在本发明的再一个实施例中，上述自动测试模块包括：

传动装置，卡接于上述箱体上的上述第一通孔一侧，用于传送上述待测元器件；其中，上述传动装置包括两个传动轴和一个第一传送带，两个上述传动轴分别位于上述第一通孔和上述箱体上的矩形槽内侧；上述第一传送带包裹于两个上述传动轴外侧；

多个第二样品盒，均匀固定于上述第一传送带上侧，用于放置上述待测元器件；

导入装置，卡接于上述箱体上的第一通孔上，用于将上述分拣模块内的上述待测元器件导入至上述第二样品盒内；