[发明专利]印刷电路板的板线缺陷检测方法、系统和存储介质

说明书

本申请公开了一种印刷电路板的板线缺陷检测方法、系统和存储介质，所述方法包括：采集印刷电路板的拍摄图像；对拍摄图像进行阈值分割，获取所述印刷电路板的板线图像区域；对印刷电路板的板线图像区域进行灰度开运算和灰度闭运算，获取所述印刷电路板的板线开运算图像和印刷电路板的板线闭运算图像；将印刷电路板的板线闭运算图像的像素点灰度值与印刷电路板的板线开运算图像的像素点灰度值进行相减，获取灰度值差值；提取灰度值差值大于第一灰度值差值阈值的区域作为第一缺陷区域；提取灰度值差值小于第二灰度值差值阈值的区域作为第二缺陷区域。相较于现有的人工检测方式，本申请的检测方式精度更高。本申请可广泛应用于图像处理技术领域中。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种印刷电路板的板线缺陷检测方法、系统和存储介质。

背景技术

在制作印刷电路板的过程中，由于人为操作失误或是生产过程中划伤了印刷电路板的板线，会导致印刷电路板无法正常使用。因此需要对制造完成的印刷电路板进行质量检测，目前对于印刷电路板的质量检测，多数工厂使用人工肉眼观察的方法进行检测，人工检测印刷电路板不仅耗费人力，并且对于印刷电路板的某些较小的质量缺陷难以检测得到，并不能保证检测的可靠性，导致目前的印刷电路板的板线缺陷检测的检测精度较低。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的是提供一种印刷电路板的板线缺陷检测方法、系统和存储介质，以提高印刷电路板缺陷检测的精度。

本申请所采用的第一技术方案是：

一种印刷电路板的板线缺陷检测方法，包括：

采集所述印刷电路板的拍摄图像；

对所述拍摄图像进行阈值分割，获取所述印刷电路板的板线图像区域；

对所述板线图像区域进行灰度开运算，获取所述印刷电路板的板线开运算图像；

对所述板线图像区域进行灰度闭运算，获取所述印刷电路板的板线闭运算图像；

将所述板线闭运算图像的像素点灰度值与所述板线开运算图像的像素点灰度值进行相减，获取灰度值差值；

提取所述灰度值差值大于第一灰度值差值阈值的区域作为第一缺陷区域；

提取所述灰度值差值小于第二灰度值差值阈值的区域作为第二缺陷区域。

进一步，所述对所述拍摄图像进行阈值分割，获取所述印刷电路板的板线图像区域这一步骤，具体包括：

对所述拍摄图像进行阈值分割，获取所述印刷电路板的待处理板线图像区域；

获取所述待处理板线图像区域的最小外接矩形区域图像；

对所述最小外接矩形区域图像进行膨胀，获取所述印刷电路板的板线图像区域。

进一步，所述灰度开运算和所述灰度闭运算的结构元素为八边形。

进一步，所述对所述拍摄图像进行阈值分割，获取所述印刷电路板的板线图像区域这一步骤，具体包括：

对所述拍摄图像进行阈值分割，获取所述印刷电路板的待处理板线图像区域；

对所述待处理板线图像区域进行区域开运算，获取所述印刷电路板的板线图像区域；

其中，所述区域开运算的结构元素为圆形。

进一步，所述采集所述印刷电路板的拍摄图像这一步骤，具体包括：

使用绿光灯对所述印刷电路板进行背光照明，采集所述印刷电路板的拍摄图像。

进一步，所述绿光灯呈环形排列。

进一步，所述印刷电路板的板线缺陷检测方法还包括：