[发明专利]嵌入式设备固件解析方法、装置、介质及电子设备

权利要求书

1.一种嵌入式设备固件解析方法，其特征在于，所述方法包括：

根据分析步长和偏移量读取待解析固件的固件数据；

分别计算各所述分析步长内读取的所述固件数据的信息熵，并将所述信息熵进行存储，得到信息熵结果序列；

根据所述信息熵结果序列，确定所述待解析固件的解析结果是否存在有效信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述分别计算各所述分析步长内读取的所述固件数据的信息熵之前，所述方法还包括：

若在所述分析步长内读取的所述固件数据的长度与所述分析步长不一致，则对所述固件数据进行填充。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述信息熵结果序列，确定所述待解析固件的解析结果是否存在有效信息，包括以下至少一项：

若所述信息熵结果序列中存在落入第一预设数值范围的信息熵，则确定所述待解析固件存在敏感信息泄露风险的有效信息；

若所述信息熵结果序列中存在连续第二设定数量的信息熵出现规律性波动，且所述规律性波动出现在所述待解析固件特定位置，则确定所述待解析固件包括软件符号或者调试信息的有效信息；

若所述信息熵结果序列中存在不小于第三设定数值的信息熵，则确定所述待解析固件中不存在带有加密的数据部分的有效信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据分析步长和偏移量读取待解析固件的固件数据之前，所述方法还包括：

获取所述待解析固件的产品配置信息，并加载所述待解析固件的固件数据；

根据所述产品配置信息和所述固件数据确定初始分析步长和初始偏移量。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在确定所述待解析固件的解析结果不存在有效信息之后，所述方法还包括：

按照预设规则对所述分析步长进行调整以对所述初始分析步长进行更新。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到信息熵结果序列之后，所述方法还包括：

根据所述信息熵结果序列生成信息熵统计直方图，并所述信息熵统计直方图展示给用户，以供所述用户根据所述信息熵统计直方图判断所述解析结果中是否存在有效信息。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于，所述待解析固件为MCU中的固件。

8.一种嵌入式设备固件解析装置，其特征在于，所述装置包括：

固件数据读取模块，用于根据分析步长和偏移量读取待解析固件的固件数据；

信息熵计算模块，用于分别计算各所述分析步长内读取的所述固件数据的信息熵，并将所述信息熵进行存储，得到信息熵结果序列；

有效信息确定模块，用于根据所述信息熵结果序列，确定所述待解析固件的解析结果是否存在有效信息。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的嵌入式设备固件解析方法。

10.一种电子设备，包括存储器，处理器及存储在存储器上并可在处理器运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的嵌入式设备固件解析方法。