[发明专利]玉米水分无损检测方法及装置

权利要求书

1.一种玉米水分无损检测方法，其特征在于，包括：

向待测玉米发送射频信号，并接收反射信号；

基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的射频阻抗参数；

根据所述射频阻抗参数以及含水量标定公式，确定所述待测玉米的含水量；

所述根据所述射频阻抗参数以及含水量标定公式，确定所述待测玉米的含水量的步骤之前，方法还包括：

基于所述射频信号和所述反射信号，确定样本玉米的射频阻抗参数；

确定样本玉米的实际水分值；其中，所述样本玉米与所述待测玉米生长状态相同；

基于所述样本玉米的实际水分值和所述样本玉米的射频阻抗参数，确定所述含水量标定公式；

所述基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的射频阻抗参数，具体包括：

基于所述射频信号和所述反射信号，确定待测玉米的测量反射系数；

基于所述待测玉米的测量反射系数和射频误差校准参数，确定待测玉米的负载反射系数；

基于所述待测玉米的负载反射系数和特征阻抗，确定待测玉米的射频阻抗参数；

其中，所述待测玉米的射频阻抗参数包括第一射频阻抗参数和第二射频阻抗参数；所述第一射频阻抗参数是基于第一射频信号和第一反射信号确定的，所述第二射频阻抗参数是基于第二射频信号和第二反射信号确定的；所述第一射频阻抗参数用于确定所述待测玉米的苞叶层含水量，所述第二射频阻抗参数用于确定所述待测玉米的苞叶层和玉米穗籽粒层含水量。

2.根据权利要求1所述的玉米水分无损检测方法，其特征在于，所述根据所述射频阻抗参数以及含水量标定公式，确定所述待测玉米的含水量，具体包括：

根据所述第一射频阻抗参数和所述第二射频阻抗参数以及玉米穗籽粒层含水量标定公式，确定所述待测玉米籽粒的含水量。

3.根据权利要求2所述的玉米水分无损检测方法，其特征在于，所述根据所述第一射频阻抗参数和所述第二射频阻抗参数以及玉米穗籽粒层含水量标定公式，确定所述待测玉米籽粒的含水量，具体包括：

基于所述第一射频阻抗参数、所述第二射频阻抗参数、玉米苞叶层的厚度和玉米穗籽粒层的厚度，确定待测玉米穗籽粒阻抗参数；

基于所述待测玉米穗籽粒阻抗参数和玉米穗籽粒层含水量标定公式，确定所述待测玉米籽粒的含水量。

4.根据权利要求2所述的玉米水分无损检测方法，其特征在于，在所述根据所述第一射频阻抗参数和所述第二射频阻抗参数以及玉米穗籽粒层含水量标定公式，确定所述待测玉米籽粒的含水量步骤之前，方法还包括：

基于样本玉米穗籽粒层射频阻抗参数以及样本玉米籽粒的实际水分值，确定玉米穗籽粒层含水量标定公式；其中，所述样本玉米与所述待测玉米生长状态相同。

5.根据权利要求4所述的玉米水分无损检测方法，其特征在于，所述基于样本玉米穗籽粒层射频阻抗参数以及样本玉米籽粒的实际水分值，确定玉米穗籽粒层含水量标定公式，具体包括：

基于第三射频信号和第三反射信号，确定样本玉米的第三射频阻抗参数；所述第三射频阻抗参数用于确定样本玉米苞叶层含水量；

基于第四射频信号和第四反射信号，确定样本玉米的第四射频阻抗参数；所述第四射频阻抗参数用于确定样本玉米苞叶层和玉米穗籽粒层含水量；

基于所述第三射频阻抗参数、所述第四射频阻抗参数、玉米苞叶层的厚度和玉米穗籽粒层的厚度，确定样本玉米穗籽粒阻抗参数；

确定样本玉米籽粒的实际水分值；

基于所述样本玉米籽粒的实际水分值和所述样本玉米穗籽粒阻抗参数，曲线拟合获得所述玉米穗籽粒层含水量标定公式。