[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 202110052353.6 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN113540242B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 雁木比吕;小林勇介;井口智明;坂野竜则 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/40 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 肖靖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
提供能够提高特性的半导体装置。根据实施方式,半导体装置包括第1电极、第2电极、第1半导体构件、第2半导体构件、第3半导体构件、第3电极、第1导电构件以及绝缘构件。连接构件的至少一部分处于第2半导体构件的第1半导体区域与第3电极之间。绝缘构件的第5部分处于第1半导体区域与连接构件之间。第5部分与第1半导体区域以及连接构件相接。
本申请以日本专利申请2020-072762(申请日2020年4月15日)为基础,从本申请享有优先权。本申请通过参照本申请,从而包含该申请的全部内容。
技术领域
本发明的实施方式一般涉及半导体装置。
背景技术
在半导体装置中期望提高特性。
发明内容
本发明的实施方式提供能够提高特性的半导体装置。
根据本发明的实施方式,半导体装置包括第1电极、第2电极、第1半导体构件、第2半导体构件、第3半导体构件、第3电极、第1导电构件、连接构件以及绝缘构件。所述第1电极包括第1电极区域、第2电极区域以及第3电极区域。从所述第1电极向所述第2电极的方向沿着第1方向。从所述第1电极区域向所述第2电极区域的方向沿着与所述第1方向交叉的第2方向。所述第3电极区域处于所述第1电极区域与所述第2电极区域之间。所述第2电极包括第4电极区域、第5电极区域以及第6电极区域。从所述第1电极区域向所述第4电极区域的方向沿着所述第1方向。从所述第2电极区域向所述第5电极区域的方向沿着所述第1方向。从所述第3电极区域向所述第6电极区域的方向沿着所述第1方向。所述第1半导体构件包括第1部分区域、第2部分区域、第3部分区域、第4部分区域以及第5部分区域,为第1导电类型。所述第1部分区域在所述第1方向上处于所述第1电极区域与所述第4电极区域之间。所述第2部分区域在所述第1方向上处于所述第2电极区域与所述第5电极区域之间。所述第3部分区域在所述第1方向上处于所述第3电极区域与所述第6电极区域之间。所述第4部分区域在所述第1方向上处于所述第1部分区域与所述第4电极区域之间。所述第5部分区域在所述第1方向上处于所述第2部分区域与所述第5电极区域之间。所述第2半导体构件包括第1半导体区域以及第2半导体区域,为第2导电类型。所述第1半导体区域在所述第1方向上处于所述第4部分区域与所述第4电极区域之间。所述第2半导体区域在所述第1方向上处于所述第5部分区域与所述第5电极区域之间。所述第3半导体构件包括第3半导体区域以及第4半导体区域,为所述第1导电类型。所述第3半导体区域在所述第1方向上处于所述第1半导体区域与所述第4电极区域之间。所述第4半导体区域在所述第1方向上处于所述第2半导体区域与所述第5电极区域之间。所述第3电极在所述第1方向上设置于所述第3部分区域与所述第6电极区域之间。所述第3电极的至少一部分处于所述第1半导体区域与所述第2半导体区域之间、以及所述第3半导体区域与所述第4半导体区域之间。所述第1导电构件的至少一部分在所述第1方向上处于所述第3部分区域与所述第3电极之间,在所述第2方向上处于所述第4部分区域与所述第5部分区域之间。所述连接构件与所述第1导电构件以及所述第2电极电连接。所述连接构件的至少一部分处于所述第1半导体区域与所述第3电极之间。所述绝缘构件包括第1部分、第2部分、第3部分、第4部分以及第5部分。所述第1部分处于所述连接构件与所述第3电极之间。所述第2部分处于所述第3电极与所述第2半导体区域之间。所述第3部分处于所述第1部分区域与所述第1导电构件之间。所述第4部分处于所述第1导电构件与所述第3电极之间。所述第5部分处于所述第1半导体区域与所述连接构件之间。所述第5部分与所述第1半导体区域以及所述连接构件相接。
根据上述结构的半导体装置,能够提供能够提高特性的半导体装置。
附图说明
图1是例示第1实施方式的半导体装置的示意的剖视图。
图2是例示第1实施方式的半导体装置的示意的立体图。
图3是例示第1实施方式的半导体装置的一部分的示意的剖视图。
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