[发明专利]航空电子设备单粒子效应故障率计算方法及装置在审
申请号: | 202110055356.5 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN112858818A | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 陈冬梅;王群勇;白桦 | 申请(专利权)人: | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 陈新生 |
地址: | 100089 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 航空 电子设备 粒子 效应 故障率 计算方法 装置 | ||
1.航空电子设备单粒子效应故障率计算方法,其特征在于,包括:
获取航空电子设备的有效任务剖面辐射应力和有效器件敏感截面;
基于所述有效任务剖面辐射应力和所述有效器件敏感截面计算得到所述航空电子设备的单粒子效应的有效软故障率和有效硬故障率;
基于所述有效软故障率和所述有效硬故障率获取所述航空电子设备的有效单粒子效应故障率。
2.根据权利要求1所述的航空电子设备单粒子效应故障率计算方法,其特征在于,所述获取航空电子设备的有效任务剖面辐射应力和有效器件敏感截面,具体包括:
获取设备任务目标;
基于所述设备任务目标采用预设任务剖面辐射应力算法获取所述有效任务剖面辐射应力;
基于所述设备任务目标采用预设器件敏感截面算法获取所述有效器件敏感截面。
3.根据权利要求1所述的航空电子设备单粒子效应故障率计算方法,其特征在于,所述基于所述有效任务剖面辐射应力和所述有效器件敏感截面计算得到所述航空电子设备的单粒子效应的有效软故障率和有效硬故障率,之前还包括:
获取单粒子效应敏感器件清单、软故障率降额因子以及硬故障率降额因子。
4.根据权利要求3所述的航空电子设备单粒子效应故障率计算方法,其特征在于,所述基于所述有效任务剖面辐射应力和所述有效器件敏感截面计算得到所述航空电子设备的单粒子效应的有效软故障率和有效硬故障率,具体包括:
基于所述有效任务剖面辐射应力、所述有效器件敏感截面、所述单粒子效应敏感器件清单和所述软故障率降额因子,计算得到所述有效软故障率;
基于所述有效任务剖面辐射应力、所述有效器件敏感截面、所述单粒子效应敏感器件清单和所述硬故障率降额因子,计算得到所述有效硬故障率。
5.根据权利要求4所述的航空电子设备单粒子效应故障率计算方法,其特征在于,所述基于所述有效任务剖面辐射应力、所述有效器件敏感截面、所述单粒子效应敏感器件清单和所述软故障率降额因子,计算得到所述有效软故障率,具体包括:
获取翻转事件率、翻转事件防护措施有效性因子、资源利用率、瞬态事件率、瞬态事件防护措施有效性因子、中止事件率、中止事件防护措施有效性因子、闩锁事件率、闩锁事件防护措施有效因子和软故障整体设计减缓因子;
基于所述翻转事件率、所述翻转事件防护措施有效性因子、所述资源利用率、所述瞬态事件率、所述瞬态事件防护措施有效性因子、所述中止事件率、所述中止事件防护措施有效性因子、所述闩锁事件率、所述闩锁事件防护措施有效因子和所述软故障整体设计减缓因子,进行加权求和计算得到所述有效软故障率。
6.根据权利要求4所述的航空电子设备单粒子效应故障率计算方法,其特征在于,所述基于所述有效任务剖面辐射应力、所述有效器件敏感截面、所述单粒子效应敏感器件清单和所述硬故障率降额因子,计算得到所述有效硬故障率,具体包括:
获取闩锁事件率、闩锁事件防护措施有效因子、烧毁事件率和烧毁事件防护措施有效因子;
基于所述闩锁事件率、所述闩锁事件防护措施有效因子、所述烧毁事件率和所述烧毁事件防护措施有效因子,进行加权求和计算得到所述有效硬故障率。
7.根据权利要求1所述的航空电子设备单粒子效应故障率计算方法,其特征在于,所述基于所述软故障率和所述硬故障率获取所述航空电子设备的有效单粒子效应故障率,具体包括:
计算所述软故障率和所述硬故障率之和,得到所述航空电子设备的有效单粒子效应故障率。
8.航空电子设备单粒子效应故障率计算装置,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于获取航空电子设备的有效任务剖面辐射应力和有效器件敏感截面;
第二获取模块,用于基于所述有效任务剖面辐射应力和所述有效器件敏感截面计算得到所述航空电子设备的单粒子效应的有效软故障率和有效硬故障率;
第三获取模块,用于基于所述有效软故障率和所述有效硬故障率获取所述航空电子设备的有效单粒子效应故障率。
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