[发明专利]用于核酸检测的芯片装置

权利要求书

1.一种用于核酸检测的芯片装置，其特征在于，包括：

设置在最上端的加样层、设置在加样层下侧的垫片和设置在垫片下侧的管路层；

其中，

所述加样层上侧设置有加样孔，用以向芯片内添加样品，注入芯片内的样品依次经过核酸提取、纯化、扩增反应；

所述加样层与管路层通过卡条与设置在管路层侧部的限位架活动连接，相应的，在限位架的内侧设置有第一卡槽，第一卡槽通过卡条相互配合连接，以实现加样层和管路层的相对位置切换和固定；

第二卡槽，所述第二卡槽设置在所述限位架的内侧，位于所述第一卡槽的下方；

在运输或存储时，所述加样层与所述第一卡槽连接；

在使用时，将所述垫片抽出，向下按压所述加样层，使得所述加样层与所述第二卡槽连接，同时，刺针设置在管路层上的立柱上，用以刺破设置在所述加样层内的试剂，以使试剂和样品进行混合反应；

当所述加样层与所述管路层压合后，设置在所述加样层底部的第一应变片检测所述加样层和所述管路层之间的挤压力，用以确定所述加样层和所述管路层在压合过程中受力的均匀性。

2.根据权利要求1所述的用于核酸检测的芯片装置，其特征在于，还包括密封膜和第二应变片，所述密封膜设置在所述管路层的下侧，用以，实现密封，所述第二应变片分别设置在所述第一卡槽和所述第二卡槽内；在所述第一卡槽内横向取M个位置，所述第二应变片检测所述M个位置处的应力，记为第一应力函数F(f1，f2……fm),所述第二卡槽内选取的位置和所述第一卡槽内的位置一一对应，所述第二卡槽的第二应力函数为F’(f1’,f2’,……fm’),根据所述第一应力函数和所述第二应力函数判断所述加样层的位置。

3.根据权利要求2所述的用于核酸检测的芯片装置，其特征在于，在所述加样层与所述第一卡槽连接时，首先比较f1和fm，得到第一正差值，若所述第一正差值高于第一预设差值f0，则重新调整所述加样层；若所述第一正差值低于第一预设差值f0，则进行后续操作；

在所述加样层与所述第二卡槽连接时，比较f1’和fm’，得到第二正差值，若所述第二正差值高于第二预设差值f0’，则重新调整所述加样层；若所述第二正差值低于第二预设差值f0’，则进行后续操作。

4.根据权利要求3所述的用于核酸检测的芯片装置，其特征在于，在所述加样层与所述第二卡槽连接时，比较第一应力函数F(f1，f2……fm)与第二应力函数为F’(f1’,f2’,……fm’)中一一对应的位置处的各个应力差值的绝对值，所述第一应力函数F(f1，f2……fm)为所述加样层和所述第一卡槽连接时产生的函数，判定每一个应力差值的绝对值是否小于预设的标准误差F0，若小于，则继续操作，若不小于，则确定对应的某组应力差值的绝对值的对应位置，以确定加样层或管路层的损坏。

5.根据权利要求1所述的用于核酸检测的芯片装置，其特征在于，所述垫片的下侧还设置有滑轨，相应的，在所述管路层的上侧面设置有滑槽，滑轨通过与滑槽配合连接，以实现垫片与管路层的滑动连接；

所述滑槽设置在管路层上的限位架的内侧；

所述垫片的端部设置若干相间排列的凹口与凸起，其中，所述滑轨设置在最外侧凸起的底面上。

6.根据权利要求1所述的用于核酸检测的芯片装置，其特征在于，在所述加样层和所述管路层还设置卡扣结构，在加样层的一侧设置有第一卡扣，第一卡扣的下侧伸出端伸出所述加样层的底端，在将加样层和管路层配合安装在一起后，通过第一卡扣卡接在管路层的侧面上，以防止加样层和管路层分离。

7.根据权利要求1所述的用于核酸检测的芯片装置，其特征在于，所述管路层上设置有两个第一单阀，用以控制所述管路层上管路内试剂的流动；

在所述管路层上还设置有一个双阀，用以控制管路的同时连通或同时封闭，所述双阀通过管路与扩增仓连通。