[发明专利]信号处理电路、信号处理方法、成像系统和移动体

说明书

本发明涉及信号处理电路、信号处理方法、成像系统和移动体。一种信号处理电路包括：检测单元，被配置为检测基于光子输入的模拟信号中的峰的产生；A/D转换单元，被配置为通过从高比特到低比特确定每个比特的值来执行信号值到比特的数字数据的A/D转换；以及控制单元，被配置为控制A/D转换单元，使得在模拟信号的第一峰的信号值的A/D转换期间检测到模拟信号的第二峰的产生的情况下，第一峰的信号值的A/D转换将被中断，并且第二峰的信号值的A/D转换将被开始。

技术领域

本公开涉及信号处理电路、信号处理方法、成像系统和运动体。

背景技术

已知一种被称为光子计数的光检测方法，该光检测方法通过对光子数进行计数来检测光。光子计数CT(计算机断层扫描)装置是使用该光子计数方法的装置的示例。采用该方法的CT装置根据能量(波长)区域对由X射线检测器产生的电信号(脉冲)进行分类，并执行信号处理以针对每个预定时间对每个能量区域中的脉冲数进行计数。基于该信号处理的结果产生对象的断层图像。日本专利公开No.2016-61614公开了一种技术，其中在已对由X射线检测器产生的电信号进行放大/整形之后执行A/D转换，并且针对每个峰值对脉冲数进行计数。由于光子是随机输入的，因此可能导致多个脉冲信号重叠。这种现象被称为堆积(pileup)。日本专利公开No.2016-61614公开了在堆积的情况下，将使用多个电容器来保持多个峰的信号值，并且将通过移位定时来执行这些信号值的A/D转换。

发明内容

考虑到上述问题，提供了一种信号处理电路，包括：检测单元，被配置为检测其信号值根据光子的输入而改变的模拟信号中的峰的产生；A/D转换单元，被配置为通过从高比特到低比特确定多个比特中的每个比特的值，执行所述模拟信号的峰的信号值到所述多个比特的数字数据的A/D转换；以及控制单元，被配置为控制所述A/D转换单元，使得在正在执行所述模拟信号的第一峰的信号值的A/D转换的时段期间检测到所述模拟信号的第二峰的产生的情况下，所述第一峰的信号值的A/D转换将被中断，并且所述第二峰的信号值的A/D转换将被开始。

在另一实施例中，提供了一种信号处理方法，包括：检测其信号值根据光子的输入而改变的模拟信号中的峰的产生；以及通过从高比特到低比特确定多个比特中的每个比特的值，执行所述模拟信号的峰的信号值到所述多个比特的数字数据的A/D转换；其中，在执行所述A/D转换时，在正在执行所述模拟信号的第一峰的信号值的A/D转换的时段期间检测到所述模拟信号的第二峰的产生的情况下，所述第一峰的信号值的A/D转换将被中断，并且所述第二峰的信号值的A/D转换将被开始。

从示例性实施例的以下描述(参照附图)中，本发明的其他特征将变得清楚。

附图说明

图1是用于说明根据第一实施例的放射线成像装置的布置的示例的框图；

图2是用于说明根据第一实施例的信号处理电路的布置的示例的框图；

图3是用于说明根据第一实施例的信号处理电路的详细布置的示例的框图；

图4是用于说明根据第一实施例的峰检测电路的布置的示例的框图；

图5是用于说明根据第一实施例的正常操作的示例的时序图；

图6是用于说明根据第一实施例的堆积操作的示例的时序图；

图7是用于说明根据第一实施例的操作的示例的流程图；

图8是用于说明根据第二实施例的A/D转换电路的布置的示例的框图；

图9是用于说明根据第二实施例的正常操作的示例的时序图；

图10是用于说明根据第二实施例的中断操作的示例的时序图；

图11是用于说明根据第二实施例的继续操作的示例的时序图；

图12是用于说明由于堆积而产生错误的曲线图；