[发明专利]一种SPI信号测试方法、装置、控制系统及介质

权利要求书

1.一种SPI信号测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

部署测试环境，进行示波器的初始化；

设定阈值，设置触发阈值次数和采样阈值次数；

执行SPI信号时序测试，通过示波器触发SPI边沿信号的峰值，当触发SPI边沿信号的峰值的次数达到所述触发阈值次数时，停止触发，统计所述峰值的数据分布，并计算时序阈值，通过所述时序阈值执行SPI信号时序测试；

所述计算时序阈值，通过所述时序阈值执行SPI信号时序测试包括以下步骤：将所述峰值进行降序排序；提取排名第一的峰值所在的区间并记为时序峰值区间，所述时序峰值区间为读电平信号出现的区间；将所述时序峰值区间设置为时序阈值；将所述时序阈值输入至所述示波器中，执行时序测试，获取所述示波器中在所述时序阈值内的第一波形，计算所述第一波形的建立时间和保持时间；

执行SPI信号过冲测试，通过示波器采集SPI信号，并测量所述采集SPI信号的边沿电压值的峰值，记为SPI信号电压峰值；当采集SPI信号的次数达到采样阈值次数时，停止采集，通过所述SPI信号电压峰值计算过冲阈值，通过所述过冲阈值执行SPI信号过冲测试；

所述通过所述SPI信号电压峰值计算过冲阈值，通过所述过冲阈值执行SPI信号过冲测试包括以下步骤：获取采集到的SPI信号电压峰值，将SPI信号电压峰值进行降序排序；得到排名第一与排名倒数第一的SPI信号电压峰值，分别记为第一电压峰值与第二电压峰值；计算所述第一电压峰值与第二电压峰值的差值；根据所述差值将第一电压峰值与第二电压峰值间等分为若干峰值区间；统计采集到的所述SPI信号电压峰值落入所述峰值区间的数量，并进行降序排序，获取排序第一与排序第二的峰值区间，并比较数值大小；将数值大的峰值区间作为读信号的过冲出现的区间，并记为过冲阈值；将所述过冲阈值输入至所述示波器，进行过冲测试，获取SPI信号边沿落在所述过冲阈值内的第二波形。

2.根据权利要求1所述的一种SPI信号测试方法，其特征在于：所述计算第一波形的建立时间和保持时间的步骤包括：

所述第一波形中含有第一时钟边沿，数据和第二时钟边沿；

计算所述数据与所述第一时钟边沿的距离，记为第一距离；

计算所述数据与所述第二时钟边沿的距离，记为第二距离；

所述第一距离为所述第一波形的保持时间；所述第二距离为所述第一波形的建立时间。

3.一种SPI信号测试装置，采用权利要求1所述的一种SPI信号测试方法，其特征在于，包括被测板卡、探棒、示波器和控制系统；

所述被测板卡与所述探棒连接且所述探棒的测试端与所述被测板卡中被测位置接触，所述探棒通过信号线与所述示波器连接；所述示波器通过网线与所述控制系统连接；所述控制系统中运行测试程序，所述控制系统通过网络传输含有控制指令的报文至所述示波器；所述示波器接收到控制指令后进行解析并执行SPI信号测试操作。

4.一种SPI信号测试装置的控制系统，其特征在于，包括初始化模块、阈值设定模块、过冲阈值模块、时序阈值模块、过冲测试模块、时序测试模块和存储模块；

所述初始化模块用于初始化示波器和被测板卡；

所述阈值设定模块用于设置时序测试时的触发阈值和过冲测试时的采集阈值；

所述过冲阈值模块用于根据所述采集阈值进行计算过冲测试时的过冲阈值；

所述时序阈值模块用于根据所述触发阈值进行计算时序测试时的时序阈值；

所述过冲测试模块用于进行过冲测试并根据所述过冲阈值获取在过冲阈值中的第一波形并保存至所述存储模块；

所述时序测试模块用于进行时序测试并根据所述时序阈值获取在时序阈值中的第二波形，并计算所述第二波形中数据与时钟的边沿的距离，分别为第一距离和第二距离；所述第一距离为保持时间，所述第二距离为建立时间，保存所述第二波形以及所述第二波形的所述建立时间和所述保持时间至存储模块；

所述存储模块用于存储所述第一波形和所述第二波形以及所述第二波形的所述建立时间和所述保持时间。

5.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1或2所述的一种SPI信号测试方法的步骤。