[发明专利]图像坏点簇校正方法、计算机装置及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202110059648.6 | 申请日: | 2021-01-18 |
公开(公告)号: | CN112911174A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 刘辉;钟午 | 申请(专利权)人: | 珠海全志科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/357 | 分类号: | H04N5/357;H04N5/367;H04N5/217 |
代理公司: | 珠海智专专利商标代理有限公司 44262 | 代理人: | 林永协 |
地址: | 519080 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 坏点簇 校正 方法 计算机 装置 可读 存储 介质 | ||
1.一种图像坏点簇校正方法,包括:
获取初始图像,对所述初始图像中每一像素点进行坏点检测,如确定某一像素点为坏点,则对所述坏点进行校正计算,获得所述坏点的校正值;
其特征在于:
对像素点进行坏点检测包括:获取以待检测像素点为中心的第一邻域,提取所述第一邻域中同一颜色通道的第一像素矩阵,并剔除所述第一像素矩阵中预设数量的极值像素点后,计算剩余像素点的中值、所述待检测像素点与所述中值的绝对差值、所述待检测像素点与剩余像素点的加权平均值,根据所述中值、所述绝对差值以及所述加权平均值判断所述待检测像素点是否为坏点。
2.根据权利要求1所述的图像坏点簇校正方法,其特征在于:
根据所述中值、所述绝对差值以及所述加权平均值判断所述待检测像素点是否为坏点包括:
如满足以下条件,确认所述待检测像素点为亮坏点:所述待检测像素点的色度值大于所述中值,且所述绝对差值大于第一阈值,且所述绝对差值大于等于第一计算值,所述第一计算值应用所述加权平均值计算获得。
3.根据权利要求2所述的图像坏点簇校正方法,其特征在于:
所述第一计算值由以下公式计算获得:(1+HotRatio)*|THhot-wavg|,其中,HotRatio为预设的亮坏点检测参数,THhot为亮坏点检测的固定参数,wavg为所述加权平均值。
4.根据权利要求1所述的图像坏点簇校正方法,其特征在于:
根据所述中值、所述绝对差值以及所述加权平均值判断所述待检测像素点是否为坏点包括:
如满足以下条件,确认所述待检测像素点为暗坏点:所述待检测像素点的色度值小于所述中值,所述待检测像素点的色度值小于预设的绝对阈值,且所述绝对差值大于第二阈值,所述绝对差值大于等于第二计算值,所述第二计算值应用所述加权平均值计算获得。
5.根据权利要求4所述的图像坏点簇校正方法,其特征在于:
所述第二计算值由以下公式计算获得:(1+ColdRatio)*|THcold-wavg|,其中,ColdRatio为预设的暗坏点检测参数,THcold为暗坏点检测的固定参数,wavg为所述加权平均值。
6.根据权利要求1至5任一项所述的图像坏点簇校正方法,其特征在于:
对所述坏点进行校正后,还执行:
对所述待检测像素点进行边缘保护计算:获取以待检测像素点为中心的第二邻域形成第二像素矩阵,剔除所述第二像素矩阵与所述第一像素矩阵中预设数量的极值像素点后,计算所述第一像素矩阵与所述第二像素矩阵的第一绝对差之和;
以待检测像素点的校正值替换所述第一像素矩阵与所述第二像素矩阵中待检测像素点后,形成第三像素矩阵与第四像素矩阵,剔除所述第三像素矩阵与所述第四像素矩阵中预设数量的极值像素点后,计算所述第三像素矩阵与所述第四像素矩阵的第二绝对差之和;
根据所述第一绝对差之和、所述第二绝对差之和判断所述待检测像素点是否为正常坏点。
7.根据权利要求6所述的图像坏点簇校正方法,其特征在于:
如确认所述待检测像素点为正常坏点,则使用所述校正值作为所述待检测像素点的输出值。
8.根据权利要求6所述的图像坏点簇校正方法,其特征在于:
如确认所述待检测像素点不是正常坏点,则使用所述校正值作与初始值的加权平均值为所述待检测像素点的输出值。
9.计算机装置,其特征在于,包括处理器以及存储器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任意一项所述的图像坏点簇校正方法的各个步骤。
10.计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任意一项所述的图像坏点簇校正方法的各个步骤。
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