[发明专利]一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法有效

专利信息
申请号: 202110060766.9 申请日: 2021-01-18
公开(公告)号: CN112890840B 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 王同乐;刘传德 申请(专利权)人: 德润特医疗科技(武汉)有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 宁波甬致专利代理有限公司 33228 代理人: 李迎春
地址: 430079 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 平板 探测器 实现 自动 曝光 控制 功能 方法
【权利要求书】:

1.一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,所述平板探测器包括依次电连接的感光层、TFT阵列及控制电路板,所述TFT阵列为若干像素组成的矩阵,所述像素包括像素电容、TFT开关、门控线和数据线,所述门控线和数据线分别与控制电路板电连接;其特征在于,包括以下步骤:

S1:设置AEC阈值P_threshold和ROI区域;

S2:X射线管组件和平板探测器进入准备状态,使门控线驱动TFT开关接通,对TFT阵列中的所有像素电容和数据线复位后,再驱动TFT开关全部断开;

S3:调整门控线电压,以驱使TFT开关打开一定比例,同时打开数据线读取整列数据作为参考值P_ref;

S4:控制X射线管组件发出X射线,当X射线到达感光层时,感光层吸收X射线转换成电荷并存储到像素电容中;

S5:在X射线持续产生的过程中,调整门控线电压使TFT开关打开一定比例,同时打开数据线实时读取整列数据作为数据值P_i;

S6:调整门控线电压以使得TFT开关关闭,同时对数据线进行复位;

S7:重复步骤S5和S6,并计算每次循环中P_i与P_ref的差值P_delta,将若干次P_delta进行累加,根据累加值与设定阈值P_threshold的关系,由控制电路板在达到结束条件时发送曝光中止命令;

S8:控制X射线曝光结束,控制电路板通过门控线逐行接通TFT开关,同时通过数据线逐行读出像素电容内存储的电荷,形成数字图像。

2.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,在步骤S7中,设累加值为P_sum,判断P_sum是否达到设定的阈值P_threshold;如果没有达到阈值,即P_sumP_threshold则继续循环;如果P_sum达到设定的阈值则判定达到结束条件,即P_sum≥P_threshold则由控制电路板发送曝光中止命令。

3.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,在步骤S7中,

先假设每个S5~S7的循环中采集一次P_delta的时间为t;

设定采集前m次循环得到累加值P_sum_m,消耗时间为m*t;

再继续进行n次循环采集,得到累加的P_sum_m+n,消耗时间为n*t;

计算剩余应该持续的曝光时间T:

T=(P_threshold-P_sum_m+n)/(P_sum_m+n-P_sum_m)*n*t;

在T时间后控制曝光结束。

4.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,在步骤S3中,多次重复步骤S3的数据采集流程,取多次采集到的数据的平均值作为参考值。

5.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,在步骤S3和S5中,TFT开关的打开比例范围为0~50%。

6.根据权利要求5所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,在步骤S3和S5中,打开的TFT开关为选定的ROI区域对应的行,打开的数据线为选定的ROI区域对应的列。

7.根据权利要求5所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,在步骤S3和S5中,控制TFT开关的打开比例相同。

8.根据权利要求1所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,所述感光层为闪烁荧光体,至少包括碘化铯、硫氧化钆中的一种;或者,所述感光层为光电半导体,至少包括非晶硒、碘化铅、钙钛矿类材料中一种。

9.根据权利要求8所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,当所述感光层为闪烁荧光体时,所述像素电容为光电二极管的结电容。

10.根据权利要求8所述的一种平板探测器实现自动曝光控制功能的方法,其特征在于,当所述感光层为光电半导体时,所述像素电容为单独的存储电容,所述存储电容的电容上级为像素电极。

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