[发明专利]质谱分析方法有效
申请号: | 202110061570.1 | 申请日: | 2021-01-18 |
公开(公告)号: | CN112378986B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 闻路红;王继业;姚伟宣;曾发明;刘云;洪欢欢 | 申请(专利权)人: | 宁波华仪宁创智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 315000 浙江省宁波市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 谱分析 方法 | ||
本发明提供了质谱分析方法,包括信噪比的获得,信噪比的获得包括步骤:(A1)待测样品被离子化,送质谱仪分析;(A2)对当次及之前获得的第一组质谱图中特征峰的强度排序,强度排序中的第二组质谱图中的特征峰的强度具有最大值;根据第一组质谱图获得信噪比最优时间段;(A3)当第二组质谱图中的特征峰强度超过第一阈值的质谱图的数量超过第二阈值时,且当次获得的质谱图对应的时间不在信噪比最优时间段内,则停止离子化;(A4)在第二组质谱图中取不低于排序的各质谱图;(A5)获得质谱图中特征峰处的信噪比,并排序;(A6)在信噪比排序中,取不低于排序的各信噪比的平均值,作为待测样品的信噪比。本发明具有运行成本低等优点。
技术领域
本发明涉及质谱,特别涉及质谱分析方法。
背景技术
质谱仪以离子源、质量分析器和离子检测器为核心。离子源是使试样分子在高真空条件下离子化的装置。电离后的分子因接受了过多的能量会进一步碎裂成较小质量的多种碎片离子和中性粒子。它们在加速电场作用下获取具有相同能量的平均动能而进入质量分析器。质量分析器是将同时进入其中的不同质量的离子,按质荷比m/e大小分离的装置。分离后的离子依次进入离子检测器,采集放大离子信号,经计算机处理,绘制成质谱图。离子源、质量分析器和离子检测器都各有多种类型。质谱仪按应用范围分为同位素质谱仪、无机质谱仪和有机质谱仪;按分辨本领分为高分辨、中分辨和低分辨质谱仪;按工作原理分为静态仪器和动态仪器。
常见质谱检测方法为:手动开启高压,离子源离子化待测物质,离子进入质谱进样口,进行检测,直到无信号后,手动关闭高压,人工选择总离子流的一个进样时间,获得对应质谱图。此类方法存在两个问题:
1. 功耗高,高压、辅助气体、辅助激光、质谱硬件等各类条件都需打开,处于待命状态,功耗高。特别是气体消耗,浪费近50%的气体,从而带来成本的增加。
2. 无法获得最优化检测结果。人工选择总离子流的一个进样时间,获得对应质谱图,无法知晓是否为最优质谱图,仅从人工经验判断,既浪费时间,又没有充分利用质谱检测性能。
发明内容
为解决上述现有技术方案中的不足,本发明提供了一种灵敏度高、分辨率高的质谱分析方法。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
质谱分析方法,所述质谱分析方法包括信噪比的获得,所述信噪比的获得包括以下步骤:
(A1)待测样品被离子化,并送质谱仪分析;
(A2)所述质谱仪非连续地输出质谱图,并对当次及之前获得的第一组质谱图中特征峰的强度排序,强度排序中的第二组质谱图中的特征峰的强度具有最大值
所述第一组质谱图中待测样品的特征峰的信噪比与输出该质谱图的时间存在映射关系,根据当次及之前获得的第一组质谱图的所述映射关系获得信噪比最优时间段;
(A3)在所述强度排序中,统计第二组质谱图中特征峰强度超过第一阈值
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波华仪宁创智能科技有限公司,未经宁波华仪宁创智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110061570.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种贴标机生产用高频焊接装置
- 下一篇:具有清洗功能的质谱分析系统及方法