[发明专利]量子比特的串扰分析方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种量子比特的串扰分析方法，其特征在于，所述方法包括：

确定待分析的第一量子比特和第二量子比特；

依次对所述第一量子比特和所述第二量子比特分别对应的量子态进行谱量子过程层析，得到所述第一量子比特对应的信号函数的第一本征谱，以及所述第二量子比特对应的信号函数的第二本征谱；

对所述第一量子比特和所述第二量子比特分别对应的量子态同步进行谱量子过程层析，得到所述第一量子比特和所述第二量子比特共同的信号函数的第三本征谱；

基于所述第一本征谱、所述第二本征谱和所述第三本征谱，确定所述第一量子比特和所述第二量子比特之间的串扰强度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依次对所述第一量子比特和所述第二量子比特分别对应的量子态进行谱量子过程层析，得到所述第一量子比特对应的信号函数的第一本征谱，以及所述第二量子比特对应的信号函数的第二本征谱包括：

对所述第一量子比特的量子态进行谱量子过程层析，并对层析所得的所述第一量子比特对应的信号函数进行解析，得到第一本征谱；其中，所述第一量子比特的量子态在进行谱量子过程层析时，所述第二量子比特处于等待状态；

对所述第二量子比特的量子态进行谱量子过程层析，并对层析所得的所述第二量子比特对应的信号函数进行解析，得到第二本征谱；其中，所述第二量子比特的量子态在进行谱量子过程层析时，所述第一量子比特处于等待状态。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一量子比特和所述第二量子比特分别对应的量子态同步进行谱量子过程层析，得到所述第一量子比特和所述第二量子比特共同的信号函数的第三本征谱包括：

对所述第一量子比特和所述第二量子比特分别对应的量子态同步进行谱量子过程层析，得到所述第一量子比特和所述第二量子比特共同的信号函数；所述共同的信号函数中包括表示量子制备误差和量子测量误差的参数；

对所述共同的信号函数进行解析，得到第三本征谱。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一本征谱、所述第二本征谱和所述第三本征谱，确定所述第一量子比特和所述第二量子比特之间的串扰强度包括：

计算所述第一本征谱和所述第二本征谱之间的张量积；

基于所述第三本征谱和所述张量积之间的差值，确定本征谱的不可拆分度；

将所述不可拆分度确定为所述第一量子比特和所述第二量子比特之间的串扰强度。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述第一量子比特和所述第二量子比特均处于纯退相位的噪声环境时，确定所述第一量子比特和所述第二量子比特的第一环境噪声模型；

获取量子比特耦合方式；

根据所述量子比特耦合方式、所述第一环境噪声模型和所述串扰强度，确定所述第一量子比特和所述第二量子比特之间的耦合串扰强度；所述耦合串扰强度随时间变化而震荡衰减，且不含制备误差和测量误差。

6.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述第一量子比特和所述第二量子比特均处于纯退相位的噪声环境时，确定所述第一量子比特和所述第二量子比特的第一环境噪声模型；

获取量子比特间的噪声关联方式；

根据所述噪声关联方式、所述第一环境噪声模型和所述串扰强度，确定所述第一量子比特和所述第二量子比特之间的关联串扰强度；所述关联串扰强度随时间变化而衰减，且不含制备误差和测量误差。