[发明专利]一种轮廓和螺纹测量用测杆结构在审

专利信息
申请号: 202110062010.8 申请日: 2021-01-18
公开(公告)号: CN112815888A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 张启有 申请(专利权)人: 上海野齿仪器科技有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/20
代理公司: 上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292 代理人: 俞晨波
地址: 200000 上海市青浦区白*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 轮廓 螺纹 测量 用测杆 结构
【说明书】:

发明公开了一种轮廓和螺纹测量用测杆结构,包括:测杆和电磁调节机构,电磁调节机构包括对称设置的上电磁线圈和下电磁线圈,上电磁线圈和下电磁线圈之间形成有电磁场,测杆的中部安装有支点轴承,测杆以支点轴承为中心产生角度变化,测杆的末端安装有永磁体,永磁体呈柱状且端部延伸至电磁场内。本发明在对上、下电磁线圈通电后平衡永磁体,并驱动永磁体推动测杆,从而调整测头对于被检测轮廓的检测力度,测杆端部在接触到被检测轮廓时以旋转支点为中心产生角度变化,位移传感器检测测杆在对检测物检测时产生的角度变化,并根据检测结果来调整上下电磁线圈的电流大小,从而控制测量测头的力值。

技术领域

本发明涉及螺纹测量技术领域,更具体为一种轮廓和螺纹测量用测杆结构。

背景技术

螺纹是机械工业中应用最为广泛的一类机械零件,主要用途是紧固、密封、传递动力和位移,因此它的测量可靠性同一般的机械零部件一样,也是非常重要。螺纹零件的机械性能除与材料、加工工艺相关外,几何参数的加工质量也是影响其性能的重要因素。因此,螺纹几何参数的检测是螺纹零件生产过程中的重要环节。对螺纹进行测量分析、给出评定,可以有效减少不合格螺纹的使用,预防连接失效。

目前,现有的轮廓和螺纹测量装置,采用测杆来对轮廓和螺纹进行检测,检测时施立固定,不能够对测杆的检测力度进行调整和测量,检测的效果差。为此,需要设计一个新的方案给予改进。

发明内容

本发明的目的在于提供一种轮廓和螺纹测量用测杆结构,解决了背景技术中所提出的问题,满足实际使用需求。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种轮廓和螺纹测量用测杆结构,包括:测杆和电磁调节机构,所述电磁调节机构包括对称设置的上电磁线圈和下电磁线圈,所述上电磁线圈和下电磁线圈之间形成有电磁场,所述测杆的中部安装有支点轴承,测杆以支点轴承为中心产生角度变化,所述测杆的末端安装有永磁体,所述永磁体呈柱状且端部延伸至电磁场内,上电磁线圈和下电磁线圈通电后在电磁场内产生磁场并推动永磁体做垂直方向的位移。

作为本发明的一种优选实施方式,所述测杆采用碳纤维材料制成,且测杆的前端两侧分别安装有测针,测杆产生角度变化以调整测针的力度。

作为本发明的一种优选实施方式,所述永磁体的一侧设置有位移传感器,位移传感器检测永磁体产生垂直位移的距离,测量测针对于被测物体的检测力度。

作为本发明的一种优选实施方式,所述永磁体与测杆的连接处套接有传感器安装座,所述传感器安装座与位移传感器固定连接。

与现有技术相比,本发明的有益效果如下:

本发明,在对上、下电磁线圈通电后平衡永磁体,并驱动永磁体推动测杆,从而调整测头对于被检测轮廓(螺纹)的检测力度,测杆端部在接触到被检测轮廓时以旋转支点为中心产生角度变化,位移传感器检测测杆在对检测物检测时产生的角度变化,并根据检测结果来调整上下电磁线圈的电流大小,从而控制测量测头的力值。

附图说明

图1为本发明所述轮廓和螺纹测量用测杆结构的结构图;

图2为本发明所述轮廓和螺纹测量用测杆结构的正视图。

图中:1、测杆;2、支点轴承;3、永磁体;4、传感器安装座;5、位移传感器;6、上电磁线圈;7、下电磁线圈;8、测针。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

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