[发明专利]物体缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明的物体缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括：获取待检测物体对应的多个轮廓的图形信息集；图形信息集中包含每个轮廓的轮廓中心、半径以及轮廓与轮廓中心的距离特征值；轮廓为曲线图形；对多个轮廓进行检测，当存在一个轮廓对应的距离特征值与半径的比值小于预设阈值，则确定待检测物体存在缺陷。与现有技术的区别在于，本申请是通过测量的每张图像的轮廓与中心点的距离参数与阈值进行比较，从而确定待检测物体是否缺陷，检测算法不再受到产线环境杂光的影响，也不再受到因为设备震动将图像拍的更大或者更小的影响，进一步提高了产线产品检测的准确率。

技术领域

本发明涉及图像检测领域，具体而言，涉及一种物体缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

目前，工业自动化是工厂产线及相关行业内的发展方向，在产品生产的过程中，需要通过相关检测算法自动检测产线不良产品；相关技术通过拍摄产品的图像，然后计算图像中目标产品的灰度平均值，或者计算图像中目标产品的面积，或者傅里叶频域变换对高频部分进行蒙版遮挡、连通域检测等方式检测产品是否有缺陷。

然而，由于产线作业环境复杂，设备受环境亮度等人为因素影响下拍出的图像杂乱不一，造成检测算法对产线不良品识别准确度较低，均不能达到产线准确率要求。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的之一在于提供一种物体缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，用于使检测方法不再受到产线环境杂光的影响，也不再受到因为设备震动将图像拍的更大或者更小的影响，提高产线产品检测的准确率。

本发明技术方案可以这样实现：

第一方面，本发明提供一种物体缺陷检测方法，所述方法包括：获取待检测物体对应的多个轮廓的图形信息集；所述图形信息集中包含每个轮廓的轮廓中心、半径以及所述轮廓与所述轮廓中心的距离特征值；所述轮廓为曲线图形；对所述多个轮廓逐一进行检测，当存在一个轮廓对应的距离特征值与所述轮廓对应的半径的比值小于预设阈值，则确定所述待检测物体存在缺陷。

可选地，获取待检测物体对应的多个轮廓的图形信息集，包括：获取所述待检测物体的图像；对所述图像进行轮廓检测，确定所述待检测物体对应的所述多个轮廓；获取每个所述轮廓对应的轮廓中心、半径以及所述距离特征值，组成所述图形信息集。

可选地，对所述多个轮廓进行检测，当存在一个轮廓对应的距离特征值与半径的比值小于预设阈值，则确定所述待检测物体存在缺陷，包括：确定每个所述轮廓对应的最大外接图形；根据全部所述最大外接图形的图形面积确定所述多个轮廓的检测顺序；按照所述检测顺序进行检测，当第一次检测到一个轮廓的距离特征值与半径的比值小于所述预设阈值，则确定所述待检测物体存在缺陷。

可选地，还包括：当确定所述待检测物体存在缺陷，停止对所述检测顺序中未被检测的轮廓进行检测。

可选地，所述方法还包括：针对每个所述轮廓，计算所述轮廓上的全部位置点与所述轮廓中心的距离，组成距离数组；将所述距离数组中的最小值，作为所述轮廓对应的距离特征值。

可选地，所述方法还包括：当每个所述轮廓的距离特征值与半径的比值均大于或等于所述预设阈值，则确定所述待检测物体正常。

第二方面，本发明提供一种物体缺陷检测装置，包括：获取模块，用于获取待检测物体对应的多个轮廓的图形信息集；所述图形信息集中包含每个轮廓的轮廓中心、半径以及对应轮廓与所述轮廓中心的距离特征值；所述轮廓为曲线图形；检测模块，用于对所述多个轮廓进行检测，当存在一个轮廓的距离特征值与半径的比值小于预设阈值，则确定所述待检测物体存在缺陷。第三方面，本发明提供一种计算机设备，包括处理器和存储器，所述存储器存储有能够被所述处理器执行的计算机程序，所述处理器可执行所述计算机程序以实现第一方面所述的物体缺陷检测方法。

第四方面，本发明提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的物体缺陷检测方法。