[发明专利]一种评估PVA光学薄膜质量的方法有效
申请号: | 202110063286.8 | 申请日: | 2021-01-18 |
公开(公告)号: | CN112858084B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 吴福胜;唐成宏;吴云柱;向学毅;刘密密;陈玉春;丁丽 | 申请(专利权)人: | 安徽皖维高新材料股份有限公司 |
主分类号: | G01N5/04 | 分类号: | G01N5/04 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 卢敏 |
地址: | 238002 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 评估 pva 光学薄膜 质量 方法 | ||
1.一种评估PVA光学薄膜质量的方法,其特征在于:将PVA光学薄膜进行膨润,通过增塑剂在PVA光学薄膜中的溶出速率与膨润时间的关系,判断增塑剂与膜中PVA的结合状况,进而评估PVA光学薄膜质量;具体包括如下步骤:
步骤1、将若干等质量的待评估PVA光学薄膜在恒定温湿度下平衡后,放入水中进行膨润,膨润时间分别设定为
步骤2、膨润结束后,将薄膜取出并吸干膜面水分,然后加入到水中,加热使薄膜充分溶解,再按照GB/T 13216.6-91测试溶液中的增塑剂甘油浓度,从而获得膨润
步骤3、根据步骤2的结果,计算在
步骤4、根据步骤3的结果,以膨润时间
2.根据权利要求1所述的一种评估PVA光学薄膜质量的方法,其特征在于:设定15s≤
3.根据权利要求1所述的一种评估PVA光学薄膜质量的方法,其特征在于:若R2≥0.990,则待评估PVA光学薄膜为优级品;若0.855≤R20.990,则待评估PVA光学薄膜为中端品;若0.75≤R20.855,则待评估PVA光学薄膜为低端品;若R20.75,则待评估PVA光学薄膜为劣质品。
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