[发明专利]天线配置参数优化方法、装置及存储介质在审
申请号: | 202110068483.9 | 申请日: | 2021-01-19 |
公开(公告)号: | CN114818452A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 李晓雯;耿新力;吴珏莹;宋其涛 | 申请(专利权)人: | 华为技术服务有限公司 |
主分类号: | G06F30/27 | 分类号: | G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08;G06F119/06 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强;李稷芳 |
地址: | 065000 河北省*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 天线 配置 参数 优化 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种天线配置参数优化方法,其特征在于,包括:
根据优化区域对应的第一天线配置参数、所述第一天线配置参数的评分对第一预测模型进行增量式更新以得到第二预测模型;
根据所述第二预测模型得到第二天线配置参数;
确定是否将所述第二天线配置参数作为第一目标配置参数;
若将所述第二天线配置参数作为第一目标配置参数,则将所述第二天线配置参数进行下发。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若不将所述第二天线配置参数作为所述第一目标配置参数,根据所述第二天线配置参数、所述第二天线配置参数的评分对所述第二预测模型进行增量式更新以得到第三预测模型;
根据所述第三预测模型得到第三天线配置参数。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取测量数据和仿真数据,其中,所述测量数据是将第二目标配置参数下发后得到的数据,所述仿真数据是根据所述第二目标配置参数和第一仿真模型得到的数据;
根据所述测量数据和仿真数据对所述第一仿真模型进行校正以得到第二仿真模型;
根据所述第一天线配置参数和所述第二仿真模型得到所述第一天线配置参数的评分。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取存储的所述第一预测模型。
5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述优化区域对应的多组历史天线配置参数和每组所述历史天线配置参数的评分得到初始预测模型,以根据所述初始预测模型得到所述第一预测模型。
6.一种天线配置参数优化装置,其特征在于,包括:
第一模型生成模块,用于根据优化区域对应的第一天线配置参数、所述第一天线配置参数的评分对第一预测模型进行增量式更新以得到第二预测模型;
第一参数生成模块,用于根据所述第二预测模型得到第二天线配置参数;
判断模块,用于确定是否将所述第二天线配置参数作为第一目标配置参数;
参数确定模块,用于若将所述第二天线配置参数作为第一目标配置参数,则将所述第二天线配置参数进行下发。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二模型生成模块,用于若不将所述第二天线配置参数作为所述第一目标配置参数,根据所述第二天线配置参数、所述第二天线配置参数的评分对所述第二预测模型进行增量式更新以得到第三预测模型;
第二参数生成模块,用于根据所述第三预测模型得到第三天线配置参数。
8.根据权利要求6或7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括评分确定模块,用于:
获取测量数据和仿真数据,其中,所述测量数据是将第二目标配置参数下发后得到的数据,所述仿真数据是根据所述第二目标配置参数和第一仿真模型得到的数据;根据所述测量数据和仿真数据对所述第一仿真模型进行校正以得到第二仿真模型;根据所述第一天线配置参数和所述第二仿真模型得到所述第一天线配置参数的评分。
9.根据权利要求6至8任一项所述的装置,其特征在于,所述装置还包括获取模块,用于:
获取存储的所述第一预测模型。
10.根据权利要求6至9任一项所述的装置,其特征在于,所述装置还包括第三模型生成模块,用于:
根据所述优化区域对应的多组历史天线配置参数和每组所述历史天线配置参数的评分得到初始预测模型,以根据所述初始预测模型得到所述第一预测模型。
11.一种天线配置参数优化装置,其特征在于,包括处理器和存储器;其中,所述存储器用于存储程序代码,所述处理器用于调用所述程序代码,以执行如权利要求1至5任一项所述的方法。
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